|
|
بررسی مطالعات استنادی پروانههای ثبت اختراع
|
|
|
|
|
نویسنده
|
سهیلی فرامرز ,توکلی زاده راوری محمد
|
منبع
|
رهيافت - 1392 - شماره : 55 - صفحه:13 -31
|
چکیده
|
پروانههای ثبت اختراع، تنها مدارک انتشاراتی هستند که 80% از دانش فنی در آنها است. کارکرد آنها، فراتر از آشنایی با یک اختراع است. از این مدارک میتوان در مطالعاتی مانند تحلیلهای استنادی بهره برد. با توجه به این مسئله، مطالعه حاضر، با هدف بررسی پژوهشها و پیشینههای مرتبط به تحلیل استنادی پروانههای ثبت اختراع انجام شده است. روش مطالعه توصیفی و از نوع تحلیل اسنادی-کتابخانهای است. در این مطالعه، بیشتر به آثار فرانسیس نارین از پیشگامان فن سنجی و سایر آثاری که رابطه استناد دهی و استناد گیری با او دارند، توجه شده است. تحلیل ذهنی منابع مورد مطالعه نشان داد که می توان موضوعات مرتبط به تحلیل استنادی پروانههای ثبت اختراع را به چهار دسته تقسیم کرد: 1- اقتصاد و بازار، 2- جریان دانش، 3- سنجههای استنادی و 4- اعتبار و اهمیت مطالعات استنادی. هر یک از این موضوعات به نوبه خود به موضوعات ریزتری تقسیم میشود.
|
کلیدواژه
|
فن سنجی ,تحلیل استنادی ,تحلیل استنادی پروانههای ثبت اختراع ,شاخص های فن سنجی
|
آدرس
|
دانشگاه پیام نور, گروه علم اطلاعات و دانش شناسی, ایران, دانشگاه یزد, گروه علم اطلاعات و دانش شناسی, ایران
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Authors
|
Soheili faramarz ,Tavakolizadeh- Ravari Mohamad
|
Abstract
|
Patents are disclosure statements that contain 80 percent of the technical knowledge. Their functions go beyond the representation of an invention, they are considered as a source for citation analyses as well. Regarding this, the purpose of the current study is to review the literature of patents’ citation analyses. The research method is a descriptive one that is based on a document analysis method. The study considers the Fransis Narin’s works who is a pioneer of technometrics and the works which have a cited/citing relation with his researches. The subjective analysis of the literature reveals four main categories in this area: 1) economy and market, 2) knowledge flow, 3) citation metrics, and 4) validity and importance of citation studies. Each of these topics are divided into a number of subtopics.
|
Keywords
|
Technometrics ,Citation analysis ,Patents citation analysis ,Patents ,Indices
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|