>
Fa   |   Ar   |   En
   ارزیابی اثر کشندگی لیزر دیود با طول موج 830 نانومتر بر بقای ایزوله‌های بالینی انتروکک مقاوم به آنتی‌بیوتیک در شرایط آزمایشگاهی  
   
نویسنده خاوری رحیمه ,رضایی محمد ,سلیمانی ندا ,مسعودی رضا
منبع مجله دانشگاه علوم پزشكي اراك - 1397 - دوره : 21 - شماره : 5 - صفحه:62 -68
چکیده    زمینه و هدف: انتروکوک ها از فلور میکروبی دستگاه گوارش انسان و حیوانات هستند. بیماری زایی به عنوان عفونت بیمارستانی انتروکوک در سال های اخیر ظهور کرده است. هدف از این مطالعه، بررسی اثر لیزر دیود با طول موج 810 نانومتر و قدرت 30 مگاوات در 180 ثانیه بر بقای یک انتروکوک مقاوم به آنتی بیوتیک بود.مواد و روش ها: حساسیت آنتی بیوتیکی 30 ایزوله بالینی باکتری انتروکوک به روش انتشار از دیسک، نسبت به آنتی بیوتیک ها مورد بررسی قرار گرفت. 10 ایزوله با بالاترین مقاومت آنتی بیوتیکی انتخاب شد و لیزر دیود با طول موج 810 نانومتر و قدرت 30 مگاوات برای 180 ثانیه بر روی آن ها بررسی شد.یافته ها: نتایج آزمون حساسیت آنتی بیوتیکی نشان داد که از بین 30 جدایه مقاوم به آنتی بیوتیک انتروکوک، 27 جدایه (90 درصد) مقاوم به آنتی بیوتیک های اکسی سیلین بودند. نتایج حاصل از اشعه لیزر دیود نشان داد که کمترین میزان زنده مانی جدایه های موردنظر در طول موج 810 نانومتر و 30 مگاوات برای 180 ثانیه (0/58 درصد) بود.نتیجه گیری: بر اساس نتایج به دست آمده، اثر ضدباکتریایی لیزر دیود در طول موج 810 نانومتر و 30 مگاوات در مدت زمان 180 ثانیه مشهود بود. بنابراین توصیه می شود از لیزر دیود 810 نانومتری برای از بین بردن گونه های بالینی انتروکوک مقاوم به آنتی بیوتیک استفاده گردد.
کلیدواژه انتروکک، لیزر دیود، مقاومت آنتی‌بیوتیکی
آدرس دانشگاه شهید بهشتی, دانشکده علوم و فن‌آوری زیستی, گروه علوم زیستی, ایران, دانشگاه شهید بهشتی, پژوهشکده لیزر و پلاسما, ایران, دانشگاه شهید بهشتی, دانشکده علوم و فنا‌وری زیستی, گروه میکروبیولوژی و زیست فن‌آوری میکروبی, ایران, دانشگاه شهید بهشتی, پژوهشکده لیزر و پلاسما, ایران
 
   Evaluation the Cytotoxic Effect of Laser (Diode 830 nm) on the Survival of Antibiotic Resistant Enterococci Clinical Isolates in Laboratory Conditions  
   
Authors Rezaei Mohammad ,Soleimani Neda ,Khavari Rahimeh ,Massudi Reza
  
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved