امکان سنجی استفاده از روش خازنی در تشخیص رسیدگی موز

درجه بندی محصولات کشاورزی همواره موضوع تحقیق دانشمندان بوده است. یکی از زمینه های مورد مطالعه درجه بندی میوه براساس میزان رسیدگی آن است. روش های مختلفی برای تشخیص میزان رسیدگی میوه به کار گرفته شده است که بعضی از این روش ها مخرب و برخی دیگر غیر مخرب هستند. در این تحقیق از روش غیرمخرب خازنی برای تشخیص میزان رسیدگی میوه ی موز استفاده شده است. رابطه میزان رسیدگی با ثابت دی الکتریک میوه در بسامد یک کیلوهرتز تا 10 مگاهرتز بررسی شد. نتایج نشان داد که ثابت دی الکتریک میوه به شدت تحت تاثیر ابعاد و حجم میوه قرار دارد. به منظور حذف اثرات این متغیرها مدلی برای تخمین ثابت دی الکتریک میوه پیشنهاد شد. این مدل تابعی از ثابت دی الکتریک معادل، حجم میوه، طول موثر و ضخامت میوه می باشد. ثابت دی الکتریک با افزایش رسیدگی میوه کاهش پیدا می کند. در بسامد یک مگاهرتز این کاهش واضح تر است. از این بسامد برای واسنجی سامانه استفاده شد. استحکام میوه به عنوان یک شاخص کیفی اندازه گیری و رابطه بین استحکام و ثابت دی الکتریک میوه بررسی شد. نتایج پیش بینی مقدار رسیدگی تقریباً قابل قبول بود. ضریب همبستگی بین میزان رسیدگی واقعی میوه و مقدار پیش بینی شده 853/0 به دست آمد.