>
Fa   |   Ar   |   En
   بررسی مقاومت آنتی‌بیوتیکی سودوموناس آیروجینوزای جدا‌شده از بیماران در بیمارستان‌های شهر تهران در سال 1392  
   
نویسنده یوسفی الهام ,صادری حوریه ,رضایی فاطمه ,اولیا پرویز
منبع دانشور پزشكي - 1394 - دوره : 23 - شماره : 121 - صفحه:29 -36
چکیده    مقدمه و هدف: سودوموناس آیروجینوزا پاتوژن گرم منفی و از عوامل اصلی عفونت‌های بیمارستانی با مکانیسم‌های مقاومت چندگانه، به‌عنوان دومین عامل مهم بیماری‌زا شناخته می‌شود که علی‌رغم وجود آنتی‌بیوتیک‌های متعدد علیه آن، درمان آن اغلب دشوار است. این مطالعه به‌منظور تعیین حساسیت آنتی‌بیوتیکی سودوموناس آیروجینوزا به دو روش دیسک دیفیوژن و میکرودایلوشن و مقایسه این دو روش صورت گرفته است.مواد و روش‌ها: 100 ایزوله بالینی سودوموناس آیروجینوزا از بیمارستان‌های منتخب تهران جمع‌آوری شده و پس از تایید هویت، الگوی مقاومت آنتی‌بیوتیکی باکتری به دو روش دیسک دیفیوژن (با دیسک شرکت himedia، هند) و میکرودایلوشن (با کیت sensititre، انگلیس) برای آنتی‌بیوتیک‌های آمپی‌سیلین/سولباکتام، سفتازیدیم، سفتریاکسون، سفوپرازون، کاربنی‌سیلین، پیپراسیلین، ایمی‌پنم، تتراسایکلین، جنتامایسین، توبرامایسین، کلرآمفنیکل، سیپروفلوکساسین و آمیکاسین بررسی شده و نتایج حاصله مورد تجزیه‌وتحلیل آماری قرار گرفت.نتایج: میزان مقاومت به آنتی‌بیوتیک‌های مذکور به ‌روش دیسک دیفیوژن در محدوده 28تا100درصد به‌ترتیب برای آنتی‌بیوتیک ایمی‌پنم و تتراسایکلین و به‌روش میکرودایلوشن در محدوده 30تا97درصد به‌ترتیب برای آنتی‌بیوتیک‌های ایمی‌پنم و آمپی‌سیلین/ سولباکتام به‌دست آمد. همچنین ضریب کاپا یا k value جهت بررسی همخوانی دو روش تعیین مقاومت، برای تتراسایکلین صفر و برای سایر آنتی‌بیوتیک‌ها بالاتر از صفر به‌دست آمد.نتیجه‌گیری: در هر دو روش مورد مطالعه، بیشترین حساسیت در سودوموناس آیروجینوزا به آنتی‌بیوتیک ایمی‌پنم دیده شد که به‌منظور کاربرد‌های درمانی به متخصصین مربوطه پیشنهاد می‌شود. همچنین روش دیسک دیفیوژن حساسیت مناسب در تشخیص مقاومت آنتی‌بیوتیکی، نظیر روش میکرودایلوشن را برای سودوموناس آیروجینوزا نشان می‌دهد.
کلیدواژه سودوموناس آیروجینوزا ,دیسک دیفیوژن ,میکرودایلوشن
آدرس دانشگاه شاهد, ایران, دانشگاه شاهد, ایران, دانشگاه شاهد, ایران, دانشگاه شاهد, ایران
 
     
   
Authors
  
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved