بررسی و مقایسه ریزنشت nanofilled resin modified glass ionomer و conventional glass ionomer در حفرات کلاس v با استفاده از دو نوع باندینگ self etch adhesive و self etch primer

زمینه و هدف: ریزنشت به عنوان معیاری جهت ارزیابی موفقیت هر ماده ترمیمی مطرح بوده و دستیابی به سیل مناسب نیز در مارجین‌ها مشکلات خاص خود را دارد، به ویژه در مارجین‌های عاجی بسیار مشکل‌تر از مینای دندان می‌باشد. تحقیق حاضر با هدف مقایسه‌ ریزنشت در مارجین‌های مینایی و عاجی حفره‌های کلاس v در دو نوع gi با استفاده از دو نوع باندینگ مختلف self etch انجام شد.روش بررسی: در سطوح باکال و لینگوال 40 دندان‌ مولر، حفره‌های کلاس v تهیه شد؛ طوری که مارجین اکلوزالی حفرات در مینا و مارجین ژنژیوالی آن‌ها1 میلی‌متر پایین‌تر از cej قرار بگیرد. دندان‌ها به 4 گروه تقسیم شدند:گروه 1:fuji ix ، g bond گروه 2: fuji ix، se bond گروه 3: gcp glass fill،g bond گروه 4: gcp glass fill، se bond. نمونه‌ها تحت چرخه‌های حرارتی قرار گرفتند؛ میزان ریز نشت اندازه‌گیری شد. جهت مقایسه‌ ریزنشت از آزمون kruskal-wallis و برای مقایسه‌ دو به دوی آن‌ها از تصحیح bonferroni استفاده شد (05/0p≤).یافته‌ها: رتبه‌های ریزنشت در دیواره‌ اکلوزال و ژنژیوال تمام گروه‌های آزمایشی برابر بوده است. در دیواره‌ ژنژیوال، کمترین رتبه‌های ریزنشت مربوط به گروه fuji ix+se bond بوده و تفاوت آن با گروه‌های fuji ix+g bond و nanoglass+g bond معنی‌دار بود (05/0p≤). در دیواره‌ی اکلوزال؛ کمترین ریزنشت در گروه fuji ix+se bond دیده شد که با هر 3 گروه دیگر تفاوت معنی‌داری داشته است (05/0p≤).نتیجه‌گیری: استفاده از se bond در مقایسه با g bond در کاهش میزان ریزنشت انواع سمان‌های گلاس‌آینومر fuji ix) و (gcp glass fill موثر بوده است.