تعیین دقت ثبت ایمپلنت و جزئیات سطحی با استفاده از پلی‌اتر و پلی‌وینیل سایلوکسان با روش تری بسته

  زمینه و هدف: تهیه قالب‌های دقیق از دندان‌های تراش خورده، در شرایطی که در مجاور ایمپلنت‌‌های دندانی هستند، حائز اهمیت است. در این شرایط، عدم توجه در انتخاب ماده و روش قالب‌گیری مناسب، نه تنها می‌تواند در انتقال موقعیت سه بعدی ایمپلنت تاثیرگذار باشد، بلکه ثبت دقیق دندان را نیز می‌تواند به مخاطره بیاندازد. در تحقیق حاضر دقت دو ماده قالب‌گیری با استفاده از ترانسفر قالب‌گیری مخروطی در ثبت موقعیت ایمپلنت و جزئیات سطح بررسی شد.   روش بررسی: یک مدل مرجع فلزی دارای 2 ایمپلنت (implantium) به همراه تراش سه شیار بر سطح یک دندان طبق استاندارد شماره 19 ada ، ساخته شد. 10 قالب پلی‌اتر (pe) با قوام متوسط با تری اختصاصی و 10 قالب پوتی‌واش پلی‌وینیل سایلوکسان (pvs) با تری پیش‌ساخته با استفاده از ترانسفرهای قالب‌گیری مخروطی تهیه شد. قالب‌ها با گچ ada نوع 4 ریخته شد. دقت قالب‌گیری به وسیله ارزیابی جابه‌جایی سر آنالوگ ایمپلنت‌ها در محورهای x و y و جابه‌جایی زاویه‌ای، با استفاده از coordinate measuring machine (cmm) و نیز دقت بازسازی شیارها با استفاده از video measuring machine (vmm) اندازه‌گیری شد. این اندازه‌گیری‌ها با مقادیر حاصل از مدل مرجع مقایسه شد. داده‌ها توسط آنالیز one way anova و t test آنالیز شد.   یافته‌ها: پوتی‌واش pvs جابه‌جایی خطی کمتری نسبت به مدل مرجع داشت (001/0> p ). اختلاف معنی‌داری در بازسازی جزئیات سطحی وجود نداشت (15/0= p ).   نتیجه‌گیری: پوتی‌واش pvs جابه‌جایی خطی کمتری نسبت به pe با قوام متوسط داشت. تفاوت معنی‌داری ازنظر بازسازی جزئیات سطحی بین دو ماده قالب‌گیری، وجود نداشت.