سنتز و مشخصه یابی لایه نازک اکسید مس رشدیافته به روش کندوپاش واکنشی

در این پژوهش لایه اکسید مس به روش کندوپاش واکنشی بر روی زیرلایه های شیشه ای در توان های مختلف لایه نشانی شده اند. به منظور بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه ها به ترتیب از روش های مشخصه یابی پراش اشعه ایکس (xrd) و طیف سنجی uv-vis استفاده شده است. نتایج نشان می دهند که با افزایش توان، فاز اکسیدمس(cu2o) به فاز کریستالی مس تغییر پیدا می کند. با بررسی خواص اپتیکی، گاف انرژی اکسید مس ev 58/2 مشخص شده است.