|
|
|
|
evaluation of analytical models in scattering scanning near-field optical microscopy for high spatial resolution spectroscopy
|
|
|
|
|
|
|
|
نویسنده
|
khajavi soheil ,eghrari ali ,shaterzadeh-yazdi zahra ,neshat mohammad
|
|
منبع
|
بيست و نهمين كنفرانس اپتيك و فوتونيك ايران و پانزدهمين كنفرانس مهندسي و فناوري فوتونيك ايران - 1401 - دوره : 29 - بیست و نهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و پانزدهمین کنفرانس مهندسی و فناوری فوتونیک ایران - کد همایش: 01221-87935 - صفحه:0 -0
|
|
چکیده
|
میکروسکوپ نوری میدان نزدیک روبشی پراکندگی تکنیکی برای افزایش وضوح فضایی است و هنگامی که توسط طیف‌سنجی تبدیل فوریه ترکیب می‌شود، می‌تواند اطلاعات طیف‌سنجی با وضوح فضایی بالا ارائه دهد. این مقاله دو مدل تحلیلی را برای سامانه با استفاده از نوک میکروسکوپ نیروی اتمی و برهمکنش آن با یک ماده دی الکتریک را مطالعه می‌کند. ما اعتبار این مدل ها را با بازیابی طیف گذردهی یک ماده نمونه از طریق روش معکوس ارزیابی می کنیم.
|
|
کلیدواژه
|
atomic force microscopy ,scanning scattering near-field optical microscopy ,interferometry
|
|
آدرس
|
, iran, , iran, , iran, , iran
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Authors
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|