بررسی ویژگی‌ های ساختاری گرافن با استفاده از طیف سنجی رامان

طیف سنجی رامان یکی از روش های پرکاربرد در آنالیز مواد مبتنی بر کربن مانند گرافن محسوب می شود. نتایج پژوهش پیش رو، توانایی تکنیک طیف سنجی رامان در شناسایی تعداد لایه ها، نقص و لبه در گرافن را نشان می دهد. برای تعیین تعداد لایه در گرافن از پارامترهایی نظیر نسبت شدت های دو قله اصلی طیف رامان، فرکانس و پهنای قله 2d استفاده شد و برای شناسایی نقص، رفتار قله ی ناشی از نقص مورد بررسی قرار گرفت. در ادامه برای بررسی اثر تابش لیزری روی گرافن، طیف های متفاوتی با افزایش توان لیزر روی نمونه ثبت شدند. نتایج، عدم آسیب به نمونه توسط تابش لیزری و بروز یک رفتار خطی از   نسبت به افزایش توان لیزر را نشان می دهند.

investigation of structural features of graphene using raman spectroscopy

raman spectroscopy is one of the widely used methods in the analysis of carbon-based materials such as graphene. the results of this research demonstrate the ability of the raman spectroscopy technique to identify the number of layers, defects, and edges in graphene. to determine the number of layers in graphene, parameters such as the ratio of the intensities of the two main peaks of the raman spectrum, the frequency, and the fwhm of the 2d peak were used, and to identify the defect, the behavior of the d peak caused by the defect was investigated. next, different spectra were recorded on the sample with increasing laser power to investigate the effect of laser radiation on graphene. the results show no damage to the sample by laser radiation and a linear behavior of    with increasing laser power.