>
Fa   |   Ar   |   En
   طراحی و شبیه سازی دروازه های منطقی پایه و حافظه با افزاره ترانزیستور دوقطبی پیوندی نیمه هادی اکسید فلز  
   
DOR 20.1001.2.0020135610.1400.4.1.160.3
نویسنده شکری علیرضا ,امیرمزلقانی مینا
منبع همايش ملي فناوريهاي نوين در مهندسي برق، مكانيك و كامپيوتر ايران - 1400 - دوره : 4 - چهارمین همایش ملی فناوریهای نوین در مهندسی برق، مکانیک و کامپیوتر ایران - کد همایش: 00201-35610
چکیده    در این مقاله دروازه های منطقی پایه nor و nand بر اساس ترانزیستور دوقطبی پیوندی با فناوری نیمه هادی اکسید فلز (mos_bjt ) طراحی و شبیه سازی شده است. mos_bjt افزاره ای است که با تکنولوژی نیمه هادی اکسید فلز (mos) طراحی می شود و دارای ویژگی های ترانزیستور دو قطبی در ابعاد نانومتری است. برای دروازه های منطقی این مقاله، خازن و مقاومت خروجی، سرعت و power delay product (pdp) بررسی شده است. pdp برای این مدار nand 15-10×1.45 و برای مدار nor 15-10×1.71 ژول است. همچنین سرعت ساختارهای nand و nor به ترتیب ps3.3 و ps5.8 و خارن خروجی به ترتیب ff 0.09 و ff 0.1 و مقاومت خروجی به ترتیب 37 و 55 کیلو اهم محاسبه شده است. همچنین در این مقاله یک حافظه حساس به لبه (sr_latch) با ساختار nand نیز طراحی شده است. تمام شبیه سازی ها در نرم افزار silvaco در قسمت mixed-mode انجام شده است.
کلیدواژه دروازه منطقی ,ترانزیستور دوقطبی پیوندی ,نیمه هادی اکسید فلز ,حافظه
آدرس دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی, ایران, دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی, ایران
پست الکترونیکی m.mazlaghani@sru.ac.ir
 
   Design and simulation of base logic gates and memory with metal oxide semiconductor bipolar junction transistor  
   
Authors
Abstract   
Keywords
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved