کاربرد تکنیک های مبتنی بر پراکندگی پرتو ایکس تولید شده در سینکروترون در مشخصه یابی خواص بلور مایع e7

روش های مبتنی بر سینکروترون در طول 30 سال گذشته اثر عمده و عمیقی در مطالعه‌ی مواد پیچیده داشته اند. توانایی کسب اطلاعات در سطح اتمی و مولکولی در مدت زمان کم، از ویژگی های منحصر به فرد سینکروترون است. یکی از مواد کاربردی که در صنعت نیز بسیار حائز اهمیت است، بلور مایع e7 می باشد. آگاهی از ساختار چنین موادی، نیازمند هنرنمایی تکنیک های مبتنی بر پراکندگی پرتو ایکس تولیدی در سینکروترون است. پراکندگی پرتو ایکس در زوایای کوچک و بزرگ علاوه بر نشان دادن تاثیر افزایش دما بر نظم جهتی مولکول های بلور مایع ، مقیاس های طولی و اطلاعات ساختاری مهمی را بدست خواهند داد. همچنین برازش داده های پراکندگی پرتو ایکس در زوایای کوچک توزیع اندازه ی ذرات، برای بلور مایع مذکور را بیان خواهد کرد.

Application of synchrotron-based X-ray scattering techniques in characterization of E7 liquid crystal properties

Synchrotron-based techniques have had, over the last 30 years, a major and profound effect on the study of complex materials. The ability to obtain information at the atomic and molecular level in a short time is one of the unique features of the synchrotron radiation. One of the most important materials in the industry is the E7 liquid crystal. Understanding the structure of such materials, requires the application of synchrotron-based X-ray scattering techniques. Small and wide angle X-ray scattering will provide important structural information in addition to showing the effect of increasing temperature on the directional order of liquid crystal molecules. The fitting of the small angle X-ray scattering for the liquid crystal will also show the particle size distribution.