>
Fa   |   Ar   |   En
   ساخت اسپکترومتر جرمی مغناطیسی جهت آنالیز ایزوتوپی نمونه های گازی  
   
DOR 20.1001.2.9819014903.1398.1.1.11.6
نویسنده حیدری میرمحمد ,رضوی ابراهیم
منبع كنفرانس ملي شتابگرهاي ذرات و كاربردهاي آن - 1398 - دوره : 4 - چهارمین کنفرانس ملی شتابگرهای ذرات و کاربردهای آن - کد همایش: 98190-14903
چکیده    دستگاه اسپکترومتر جرمی یکی از مهمترین تجهیزات در آنالیز ایزوتوپی عناصر به حساب می آید. اهمیت فوق العاده آن در صنعت هسته ای به جهت آنالیز نمونه های گازی و تعیین غنای ایزوتوپ های uf6 از یک طرف و کمبود این نوع دستگاه ها در کشور و عدم تامین آنها به دلیل وجود تحریم ها از طرف دیگر، ایده ی طراحی و ساخت دستگاه اسپکترومتر جرمی را در کشور ایجاد نمود. دستگاه قابلیت اسکن جرم های 0-500 amu را دارد که اسکن جرم های مختلف با تغییر میدان مغناطیسی انجام شده و ولتاژ شتاب دهنده بعد از انجام تنظیم اولیه در طول آنالیز ثابت خواهد بود. نتایج ارائه شده در این مقاله برای آنالیز ایزوتوپ های 235 و 238 اورانیوم می باشد. در این مقاله به بررسی و ارائه تکنیک هایی جهت بالا بردن دقت، پایداری و رزولوشن دستگاه پرداخته شده است.
کلیدواژه قطاع مغناطیسی، اسپکترومتر جرمی، رنج جرمی، رزولوشن، حساسیت
آدرس شرکت کالا الکتریک, ایران, شرکت کالا الکتریک, ایران
 
   Fabrication of magnetic sector mass spectrometry for isotopic analysis of gas samples  
   
Authors
Abstract    Mass spectrometry is one of the most important equipment in isotopic analysis of elements. The extraordinary importance of it in nuclear industry for analyzing gas samples and determining the richness of the uranium hexafluoride isotopes of one hand and the lack of them due to the presence of sanctions on the other hand, created the idea of making mass spectrometry in the country. The device is capable of scanning masses of 0 to 500 Amu. The scans of different masses performed by changing the magnetic field and the accelerator voltage will be constant after initial adjustments during the analysis. The results presented in this paper are to the analysis of 235 and 238 uranium isotopes. In this paper reviews and presents techniques to improve accuracy, stability and resolution of the device.
Keywords قطاع مغناطیسی، اسپکترومتر جرمی، رنج جرمی، رزولوشن، حساسیت
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved