>
Fa   |   Ar   |   En
   تاثیر آهنگ اسپری بر ویژگی های فیزیکی لایه های نازک اکسید کادمیوم تهیه شده به روش اسپری پایرولیزیز  
   
نویسنده سیاس محمد رضا ,فدوی اسلام محمدرضا
منبع كنفرانس فيزيك ايران - 1399 - دوره : 36 - کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۹۹ - کد همایش: 99200-93529 - صفحه:0 -0
چکیده    لایه های نازک اکسید کادمیوم به روش اسپری پایرولیزیز لایه نشانی و اثر آهنگ اسپری بر ویژگی های ساختاری، ریخت ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه‌های نازک تحقیق شد. نمونه ها توسط پراش پرتو ایکس، میکروسکوپ روبشی الکترونی گسیل میدان، میکروسکوپ نیروی اتمی، طیف سنجی نور مرئی – ماوراء بنفش و اندازه گیری الکتریکی مشخصه یابی شدند. طیف پراش پرتوایکس ساختار بس بلور فاز خالص مکعبی cdo را تایید می کند که با افزایش آهنگ اسپری بهینه شده‌است. همه لایه های نازک قله های مربوط به صفحات (111)، (200)، (220) و (211) را نشان می دهند. تصاویر fe-sem ریخت ساختاری دانه ای را برای تمام نمونه ها ارائه می‌کند. تصاویر afm متوسط زبری نمونه ها را بین 3/31 و nm 9/60 ارائه می کند. گاف اپتیکی مقادیر بین 37/2 و ev 5/2 را برای تمام نمونه ها نشان می دهد. آزمایشات اثرهال برای تمام نمونه ها رسانش نوع n را تایید می کند
کلیدواژه لایه نازک ,اکسید کادمیوم ,اسپری پایرولیزیز
آدرس دانشگاه دامغان. damghan university, دانشگاه دامغان. damghan university
 
   Effect of spray rate on physical properties of Cadmium Oxide thin film prepared by pyrolysis technique  
   
Authors Sayyas Mohammad Reza ,Fadavieslam Mohammad Reza
Abstract    Cadmium Oxide thin films were deposited through spray pyrolysis method, and effect of spray rate on the structure, morphology, optical, and electrical properties of the thin films was investigated. The samples were characterized by X-ray diffraction (XRD), field emission scanning electron microscopy (FE-SEM), atomic force microscope (AFM), UV–Vis spectroscopy, and electrical measurements. The XRD pattern confirms the polycrystalline nature with cubic structure of pure CdO phase, which is modified after increasing the spray rate. All thin films show peaks related to (111), (200), (220), and (211) planes. FE-SEM images represent grain morphology for all of samples. AFM images represent the average roughness between 31.3 and 60.9 for all the samples. The optical band gap values were between 2.37 and 2.5eV for all the samples. Hall effect experiment confirm n-type conduction in all of the samples.
Keywords
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved