بررسی اثر نویز ضربه‌ای و نویز حرارتی در آشکارسازهای نوری Pin و Apd

هدف از این مقاله بررسی اثر نویز ضربه‌ای و نویز حرارتی در آشکارسازهای pin و apd به ازای تغییرات نرخ بیت در بازه‌های فرضی مشخص می‌باشد. برای این کار از نرم افزار اپتی سیستم جهت بررسی اثرات نویزهای ضربه‌ای و حرارتی با نرخ بیت‌های مختلف در آشکارسازهای pin وapd استفاده شد. نتایج بدست آمده از شبیه‌سازی نشان می‌دهد که در آشکار ساز pin نویز حرارتی نسبت به نویز ضربه‌ای، نرخ خطای بیت(ber) را بیشتر می‌کند. همچنین با افزایش نرخ بیت نشان داده شدکه نویز ضربه‌ای در این آشکار ساز تاثیر چندانی بر ضریب کیفیت نسبت به نویز حرارتی ندارد. بر خلاف آشکارساز pin، در فتودیود apd نویز ضربه‌ای نرخ خطای بیت را افزایش می‌دهد. همچنین در این آشکارساز عامل کاهنده‌ی ضریب کیفیت نویز ضربه‌ای می‌باشد. در حالت کلی نشان داده شد که در آشکارساز‌های pin نویز حرارتی تاثیر زیادی بر روی نرخ خطای بیت و ضریب کیفیت دارد، و همچنین در آشکارساز‌های apd نویز ضربه‌ای، در نرخ خطای بیت و ضریب کیفیت موثرتر است.