>
Fa   |   Ar   |   En
   مطالعه و بررسی ضخامت، ثابت دی‎الکتریک، تعداد تناوب، بر سیستم های چند لایه ای بدون انعکاس  
   
DOR 20.1001.2.9920155787.1399.27.1.16.9
نویسنده اکبرزاده زهرا ,قادی امین
منبع كنفرانس اپتيك وفوتونيك و كنفرانس مهندسي و فناوري فوتونيك ايران - 1399 - دوره : 27 - بیست و هفتمین کنفرانس اپتیک وفوتونیک و سیزدهمین کنفرانس مهندسی و فناوری فوتونیک ایران - کد همایش: 99201-55787 - صفحه:196 -199
چکیده    در این مقاله، ساختار پلاسما – دی الکتریک، را با استفاده از روش ماتریس انتقال، مورد بررسی قرار می‎دهیم. سپس تغییرات تعداد تناوب، ثابت دی الکتریک، و ضخامت لایه‎ها را روی پهنای باند انعکاس، نشان می‎دهیم. در این ساختار مشاهده می‎شود که با افزایش تعداد تناوب، تعداد باندهای انعکاسی کمتر می‎شود اما مراکز این باندها به سمت فرکانس‎های بیشتر می‎روند. همچنین با افزایش ثابت دی‎الکتریک مرکز پهناهایشان کاهش، اما پهناهایشان افزایش می‎یابد. با افزایش ضخامت لایه، پهنای باندانعکاس کم و زیاد می‎شود ولی به تعداد باندانعکاس افزوده می‎‎شود.
کلیدواژه باند انعکاس فوتونیکی، بلور های فوتونیکی، مدهای انتشاری ( باند انتقال).
آدرس دانشگاه مازندران, ایران, دانشگاه مازندران, ایران
 
   Study of refractive index and thickness and number of periods and dielectric constants on multilayer systems without reflection  
   
Authors
Abstract    In this paper, we study the plasma-dielectric structure using the transfer matrix method.  Then we show the changes in the number of periods, the dielectric constant, and the thickness of the layers on the reflection bandwidth. In this structure, it is observed that with increasing the number of periods, the number of reflective bands decreases, but the centers of these bands move towards higher frequencies. Also, with increasing dielectric constant, their center widths decrease, but their widths increase. As the layer thickness increases, the bandwidth of the reflector increases and decreases, but the number of reflector bands increases.
Keywords باند انعکاس فوتونیکی، بلور های فوتونیکی، مدهای انتشاری ( باند انتقال).
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved