تاثیر دما بر منحنی مشخصه i-v نیمه هادی اکسید روی (zno) آلاییده شده با اکسید مس (cuo) سنتز شده با روش هیدروترمال

در این مقاله، ساخت و مشخصه یابی همراه با ویژگی سنجی الکتریکی بر روی لایه نازک اکسید روی آلاییده شده با اکسید مس انجام شده است. جهت تهیه ی ماده اولیه از روش هیدروترمال استفاده شده و لایه های نازک به روش پوشش دهی چرخشی بر زیرلایه ی سیلیکن/اکسید سیلیکن ایجاد شده اند. مشخصه یابی لایه های نازک به دست آمده با استفاده از پراش پرتو ایکس (xrd) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) انجام شده است که نتایج نشان دهنده ساختار کریستالی نانوذرات شش ضلعی اکسیدروی آلاییده شده با اکسید مس با اندازه nm 685-55 برای دمای بازپخت c°400 و اندازه nm 979-64 در دمای بازپخت c°550 است. آنالیز طیف سنجی پراش انرژی پرتو ایکس (eds) نیز، حضور zn، cu و o را تایید کرده است. بررسی خواص الکتریکی، افزایش هدایت الکتریکی نمونه ها با افزایش دمای کاری و دمای بازپخت را نشان داد. همچنین هدایت الکتریکی برای بازپخت در خلا از هدایت الکتریکی برای بازپخت در هوا بهتر بوده است.