|
|
|
|
تاثیر نرخ تکرار پالس لیزر بر ویژگی های مغناطیسی لایه های نازک فریت شش گوشی استرانسیوم به کمک pld
|
|
|
|
|
DOR
|
20.1001.2.9819039806.1398.9.1.55.5
|
|
نویسنده
|
nikmanesh hossein ,نیک منش حسین ,kameli parviz ,کاملی پرویز
|
|
منبع
|
كنفرانس ملي خلا ايران - 1398 - دوره : 9 - نهمین کنفرانس ملی خلأ ایران - کد همایش: ۹۸۱۹۰-۳۹۸۰۶ - صفحه:228 -231
|
|
چکیده
|
در این پژوهش، تاثیر نرخ تکرار پالس لیزری بر خواص مغناطیسی لایه های نازک فریت شش گوشی استرانسیوم به تفصیل مورد بررسی قرار گرفته است. لایه های نازک فریت استرانسیومsrfe12o19 روی زیرلایه سافایر al2o3 (0001) با استفاده از تکنیک لایه نشانی لیزر پالسی (pld) به صورت همبافت رشد داده شد. ویژگی مغناطیسی این لایه ها توسط مغناطیس سنج نمونه ارتعاشی (vsm) و طیف سنجی رامان مورد بررسی قرار گرفت. ویژگی های مغناطیسی فیلم های فریت شش گوشی استرانسیوم با فرکانس های مختلف در امتداد محورهای آسان ([0001]) و سخت ([1010]) با استفاده از vsm اندازه گیری و مطالعه شد. همچنین، تغییر ویژگی های مغناطیسی از جمله مغناطش اشباع (ms) ، مغناطش باقیمانده (mr) و وادارندگی (hc) از منحنی های پسماند محاسبه می شود. در منحنی های پسماند مغناطیسی موازی و عمود بر صفحه زیرلایه ، که در دمای اتاق اندازه گیری شد، با افزایش نرخ تکرار پالس میزان ناهمسانگردی عمود بر صفحه تغییرات قابل توجهی نشان می دهد. طیف سنجی رامان نشان می دهد طیف رامان لایه های نازک کاملاً شبیه به نمونه هایی است که برای پودر به دست آمده است.
|
|
کلیدواژه
|
ویژگی مغناطیسی ,لایه نازک ,فریت شش گوشی استرانسیوم ,pld
|
|
آدرس
|
دانشگاه خلیج فارس, دانشکده علوم پایه, ایران, دانشگاه خلیج فارس, دانشکده علوم پایه, ایران, دانشگاه صنعتی اصفهان, دانشکده فیزیک, ایران, دانشگاه صنعتی اصفهان, دانشکده فیزیک, ایران
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Influence of repetition rate of pulsed laser on magnetic properties of strontiumhexaferrite thin films by PLD
|
|
|
|
|
Authors
|
|
|
Abstract
|
In this study, the effect of repetition rate of pulsed laser on the magnetic properties of strontium hexaferrite thinfilms studied in detail. The epitaxial strontium hexaferrite thin films were grown on sapphire Al2O3 (0001)substrate using pulsed laser deposition (PLD) technique. The magnetic properties of the samples wereinvestigated by vibrating sample magnetometery (VSM) and Raman spectroscopy. Magnetic propertymeasurements of the SrM films with different frequency were conducted along in-plane easy ([0001]) and hard([1010]) axes using VSM. Also, the variation of the magnetic properties such as saturation magnetization (Ms),remanent magnetization (Mr) and coercivity (Hc) are calculated from hysteresis loops. The in plane and out-ofplanemagnetic hysteresis loops, which were measured at room temperature, showed a change out-of-planeanisotropy when the deposition rate was increased. Raman spectroscopy shows that the Raman spectra of thethin films are similar to those obtained for the powder.
|
|
Keywords
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|