طراحی و ساخت دستگاه اندازه‌گیری غیر مخرب ثابت دی‌الکتریک و ضریب نفوذپذیری مغناطیسی مواد با استفاده از روش بهبود یافته اختلال محفظه مایکروویوی

در این مقاله به بررسی روش اختلال محفظه (cpm ) که روشی متداول برای تعیین مشخصات الکترومغناطیسی مواد در بازه‌ی فرکانسی مایکروویو می‌باشد، می‌پردازیم. این روش بر تغییر در فرکانس رزونانس و ضریب کیفیت محفظه بر اثر دخول نمونه در محل حداکثر میدان الکتریکی یا مغناطیسی، وابسته به طبیعت پارامتری که تحت مطالعه است، استوار است. مهمترین محدودیت این روش آنست که حجم نمونه باید کوچک باشد تا اثر قابل اغماضی در هندسه‌ی میدان‌های داخل محفظه نداشته باشد. در این مقاله با ارائه روشی جدید مبتنی بر طراحی موجبر مستطیلی با درپوش متناسب با آن، که محل قرارگیری نمونه می‌باشد و ساخت دستگاه اندازه‌گیری مناسب، با حداقل کردن انواع خطاهای اندازه‌گیری هم‌چون اندازه‌گیری با صفحه‌های سوراخ‌دار با قطرهای مختلف در ابتدا و انتهای موجبر، استفاده از چسب مایع مناسب برای چسباندن نمونه بر روی درپوش موجبر و ... بیان گردیده است. برای طراحی و ساخت دستگاه اندازه‌گیری غیر مخرب در باندهای مختلف، ضرایب دی‌الکتریک و نفوذپذیری مغناطیسی مواد با درصد خطای خیلی پایین ارائه شده است. برای ارزیابی دقت روش پیشنهاد شده، مقادیر ثابت دی‌الکتریک و نفوذپذیری مغناطیسی چند نمونه اندازه‌گیری شده با مقادیر واقعی مقایسه شده و درصد خطای این روش پیشنهادی در نهایت به کمتر از 1.5 درصد رسیده است.

Development of a Measurement System for Nondestructive Determination of Dielectric Constant and Magnetic Permeability of Materials, Using an Enhanced Microwave Chamber Disturbance Method

The microwave chamber disturbance method (CDM) is a commonly used procedure for determining the electromagnetic properties of materials in the microwave frequency range. This method is based on the change in the resonance frequency and the quality coefficient of a measurement chamber due to the penetration of the sample at the location of the maximum electric or magnetic field, depending on the nature of the parameter under study. The main limitation of the CDM is the requirement that the sample size must be small so as not to have a negligible effect on the geometry of the fields inside the chamber. In this paper, we propose an enhanced CDM for accurate measurement of dielectric constant and magnetic permeability of materials with very low error rates. The chamber consists of a rectangular waveguide with a cap that fits the location of the sample. This arrangement provides a suitable measuring device that minimizes the measuring errors, including the uncertainty in the perforated plate and use of liquid adhesive for samplewaveguide attachment. To validate the accuracy of the proposed method, the predicted values of dielectric constant and magnetic permeability of several sample materials are compared with their actual values and the error rate of this proposed method has finally reached less than 1.5%