شناسایی سریع محصول آلوده به سم آفت‌کش با روش‌های نوین فناوری آزمون غیرمخرب

آفت‌کش‌ها یا سموم شیمیایی که برای کنترل آفت‌ها و بیماری‌های گیاهی استفاده می‌شوند، اگر چه سبب افزایش کارایی تولید محصول هستند، می‌توانند محیط زیست و مواد غذایی را آلوده کنند. استفاده بیش از حد و نادرست آفت‌کش‌ها در طول تولید، عدم توجه به دوره کارنس سموم، برداشت زودهنگام محصولات سم‌پاشی‌شده و ارائه آنها به بازار، و فروش این محصولات بلافاصله یا در مدت زمان کوتاهی پس از سم‌پاشی، منجر به افزایش باقی‌مانده سموم در آنها از حد مجاز می‌شود که مخاطرات جدی برای سلامت و ایمنی مصرف‌کننده در پی دارد. به منظور حفظ سلامت عمومی، شناسایی و تعیین آلودگی محصولات کشاورزی (به ویژه میوه‌ها و سبزی‌ها) به سموم آفت‌کش بسیار ضروری است. در حال حاضر برای اندازه‌گیری غلظت باقی‌مانده سموم، از روش‌های مخرب مختلفی استفاده می‌شود که بسیار پرهزینه و زمان‌بر هستند و نیاز به نیروی متخصص و آموزش‌دیده و آزمایشگاه‌های پیشرفته دارند. بنابراین، توسعه یک روش غیرمخرب سریع، ساده، کم‌هزینه، ناآلاینده و قابل اعتماد به منظور تشخیص باقی‌مانده سموم آفت‌کش بسیار ضروری است. در این مقاله، ضمن ارائه پیشرفت‌های نوین در فناوری آزمون غیرمخرب که می‌توانند برای شناسایی سریع محصول آلوده به سموم شیمیایی استفاده شوند، به معرفی سامانه نوین و قابل حمل طراحی‌شده برای این منظور مبتنی بر روش اپتیکی اسپکتروسکوپی فروسرخ نزدیک پرداخته شده است.