ارزیابی صدمات مکانیکی وارده به نخود ناشی از سقوط آزاد تحت آزمون‌های هدایت الکتریکی و پیری زودرس

مقدمه: بذر محصولات کشاورزی از لحظه برداشت تا زمان انتقال به انبار بطور دایم در معرض نیروهای ضربه‌ای ماشین‌ها قرار می‌گیرد. طراحی و عملکرد نامناسب ماشین‌های مورد استفاده در هر یک از این مراحل می‌تواند باعث آسیب مکانیکی بذرها شود. آسیب‌های مکانیکی ناشی از سقوط آزاد بر بذر محصولات کشاورزی که در مراحل مختلف برداشت، حمل ‌و نقل و سایر فرایندها رخ می‌دهد، باعث کاهش کیفیت آنها و افزایش ضایعات بذری می‌شود. این مطالعه با هدف ارزیابی میزان صدمات مکانیکی وارده به بذر نخود در اثر ضربه ناشی از سقوط آزاد انجام شد.مواد و روش‌ها: آزمایش به‌صورت فاکتوریل در قالب طرح کاملاً تصادفی در سه تکرار انجام شد. فاکتورها شامل ارتفاع سقوط بذر (3، 6، 9 و 12 متر)، جنس سطح برخورد (سیمان، چوب، فلز (آهن) و بذر با بذر) و رطوبت بذر (10، 15، 20 و 25 درصد) بودند. صفات مورد بررسی یا میزان صدمات وارده به بذرها که شامل اندازه‌گیری زوال بذر به روش پیری زودرس (کاهش درصد جوانه‌زنی در آزمون پیری زودرس) و اندازه‌گیری میزان هدایت الکتریکی بودند. یافته‌ها: نتایج تجزیه واریانس نشان داد که هر سه فاکتور (ارتفاع سقوط، جنس سطح برخورد و رطوبت بذر) تاثیر معنی‌داری را در سطح احتمال یک درصد بر کاهش درصد جوانه‌زنی در آزمون پیری زودرس و تغییرات هدایت الکتریکی بذر نخود داشتند. در آزمون پیری زودرس، بیشترین صدمه‌دیدگی بذرها در سطح برخورد فلز (41.96 درصد کاهش درصد جوانه‌زنی) و کمترین آن در سطح برخورد بذر با بذر (29.71 درصد) رخ ‌داده بود. همچنین بیشترین میزان هدایت الکتریکی مربوط به حالت سقوط بذرها روی فلز (36.09 میکروزیمنس بر سانتی‌متر بر گرم) و کمترین آن مربوط به برخورد بذر با بذر بود (21.68 میکروزیمنس بر سانتی‌متر بر گرم). با افزایش ارتفاع سقوط بذرها از 3 به 12 متر، میزان کاهش جوانه‌زنی و هدایت الکتریکی بذرها به ترتیب از 27.74 به 48.08 درصد و از 18.72 به 40.47 میکروزیمنس بر سانتی‌متر بر گرم افزایش‌یافته بود. افزایش رطوبت بذرهای نخود از 10 به 25 درصد، باعث کاهش میزان صدمات بذرها به‌صورت تغییر هدایت الکتریکی (از 38.40 به 21.18 میکروزیمنس بر سانتی‌متر بر گرم)، اما افزایش صدمات به‌صورت کاهش درصد جوانه‌زنی در آزمون پیری زودرس (از 29.22 به 42.88 درصد) شده بود.نتیجه‌گیری: نتایج این تحقیق نشان داد که جابه‌جایی بذرهای نخود و سقوط آزاد ناشی از آن تاثیر قابل توجهی بر میزان صدمات نهانی آنها از جمله کاهش درصد جوانه‌زنی و تغییرات هدایت الکتریکی داشت. بنابراین، در طول فراوری و حمل و نقل بذرها، باید ارتفاع سقوط را تا حد ممکن کاهش یابد و از برخورد بذرها با سطوح سخت جلوگیری شود.

evaluation of mechanical damages to chickpeas due to free fall during handling under electrical conductivity and accelerated aging tests

extended abstractintroduction: the seeds of agricultural products are constantly subjected to impact forces from machines from the moment they are harvested to the time they are transferred into storage. improper design and performance of machines in each of these stages can cause mechanical damage to seeds. mechanical damage caused by free fall on the seed of agricultural products, which occurs during different stages of harvesting, transportation and other processes, causes a decrease in their quality and an increase in waste. this study aimed to evaluate the amount of mechanical damage caused to chickpea seeds due to the impact of free fall.materials and methods: the experiment was conducted as a factorial in the form of a completely randomized design with three replications. the factors included drop height (3, 6, 9 and 12 m), the contact surface (concrete, plywood, metal (iron) and seed-on-seed) and seed moisture content (10, 15, 20 and 25 %).  the studied traits or the amount of damage to the seeds included the measurement of seed deterioration by the accelerated aging method (loss in germination percentage in the accelerated aging test) and the measurement of electrical conductivity.results: the results of the analysis of variance showed that all three factors (drop height, the contact surface and moisture content) had significant effects at p<0.01 on the loss in germination percentage in the accelerated aging test and changes in electrical conductivity of chickpea seeds. in terms of loss in germination percentage, the highest damage to seeds occurred in the metal contact (41.96%) and the least in the seed-on-seed treatments(29.71%). also, the highest amount of electrical conductivity was related to the seeds dropped on the metal (36.09 μs cm-1g-1) and the lowest was related to seed-on-seed contact (21.68 μs cm-1g-1). as the drop height rose from 3 to 12 m, the loss in germination and electrical conductivity of seeds increased from 27.74 to 48.08% and from 18.72 to 40.47 μs cm-1g-1, respectively. increasing the moisture content of chickpea seeds from 10 to 25% causes a decrease in the amount of damage to the seeds in terms of electrical conductivity (from 38.40 to 21.18 μs cm-1g-1). however, the damage was in the form of loss in germination percentage during the accelerated aging test (from 29.22 to 42.88 %).conclusion: the findings of this study revealed that the movement of chickpea seeds and the subsequent free fall had a notable impact on their latent damage, leading to a decrease in germination rate and alterations in electrical conductivity. therefore, it is recommended to minimize fall height and prevent seeds from hitting hard surfaces during seed processing and transportation to mitigate the damage.highlights:seed deterioration tests using accelerated aging and electrical conductivity can be used as appropriate criteria to measure the mechanical damage to chickpea seeds.when designing machines that come into contact with the seeds, it is important to choose surfaces made of soft materials to minimize the destructive effects of the seeds falling from greater heights.the moisture content during the processing and transportation of the seeds should be at an optimal level of around 15%.