>
Fa   |   Ar   |   En
   تجزیه میانگین نسل‌ها برای مقاومت به بیماری ساقه سیاه در آفتابگردان (helianthus annuus l.) با استفاده از مدل‌های خطی مخلوط  
   
نویسنده درویش زاده رضا ,علیپور هادی ,صرافی احمد
منبع پژوهش هاي ژنتيك گياهي - 1396 - دوره : 4 - شماره : 2 - صفحه:29 -42
چکیده    بیماری ساقه سیاه یکی از بیماری های مهم قارچی آفتابگردان است. اطلاع از نحوه توارث و کنترل ژنتیکی صفت اهمیت ویژه ای در انتخاب روش مناسب به نژادی برای مقاومت به این بیماری دارد. در این تحقیق دو ژنوتیپ ensat-b5 و as613 آفتابگردان به همراه ژنوتیپ جهش یافته m5-54-1 که دارای واکنش متفاوت به جدایه های mp8 و mp10 (قارچ عامل بیماری ساقه سیاه) بودند، انتخاب و نسل های f1، f2، bc1 و bc2 از طریق تلاقی های ensat-b5×as613 و ensatb5×m5541 ایجاد شدند. نسل های حاصل از تلاقی و والدین برای هر مجموعه در قالب طرح پایه کاملاً تصادفی با 3 تکرار در شرایط کنترل شده کشت و آلودگی با جدایه های mp8 و mp10 قارچ عامل بیماری انجام شد. به غیر از ترکیب تلاقی [(♀) m5-541 ×en-sat-b5 (♂)mp10]، در دو ترکیب تلاقی [(♀) as613 ×ensat-b5 (♂)-mp8] و [(♀) -as613 ×ensat-b5 (♂)mp10] معنی دار شدن آزمون نیکویی برازش برای مدل سه پارامتری افزایشی غالبیت حاکی از وجود اثرات متقابل غیرآللی در توارث صفت مقاومت به ساقه سیاه بود. در مدل های برازش یافته برای ترکیب های تلاقی مختلف، اثر غالبیت [d] و اثرات متقابل غالبیت ×غالبیت [dd] بالا و معنی دار بودند که نشان دهنده اهمیت بیشتر اثرات غیرافزایشی است. بنابراین انتخاب در نسل های اولیه برای این صفت موفقیت آمیز نخواهد بود و بر این اساس تولید ارقام هیبرید برای افزایش مقاومت به بیماری ساقه سیاه توصیه می شود.
کلیدواژه اثرات غیرافزایشی، اپیستازی، تنش زیستی، گیاهان دانه روغنی، طرح‌ آمیزشی
آدرس دانشگاه ارومیه, دانشکده کشاورزی, گروه اصلاح و بیوتکنولوژی گیاهی, ایران, دانشگاه ارومیه, دانشکده کشاورزی, گروه اصلاح و بیوتکنولوژی گیاهی, ایران, انستیتو ناسیونال پلیتکنیک, مدرسه عالی ملی زراعت تولوز, آزمایشگاه اکولوژی عملکردی, ایران
 
   Generation Mean Analysis to Black Stem Disease Resistance in Sunflower (Helianthus annuus L.), using Mixed Linear models  
   
Authors Darvishzadeh Reza ,Alipour Hadi ,Sarrafi Ahmad
  
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved