>
Fa   |   Ar   |   En
   تاثیر فرآیندهای ازن دهی، تابش اشعه uv و میدان پالس الکتریکی بر کاهش آفلاتوکسین m1 و آفلاتوکسین کل در شیر اسیدوفیلوس  
   
نویسنده خوری عصمت ,حکیم زاده وحید ,محمدی ثانی علی ,رشیدی حسن
منبع ميكروب شناسي مواد غذايي - 1399 - دوره : 7 - شماره : 3 - صفحه:68 -81
چکیده    یکی از مهمترین چالش های پیش روی صنایع لبنی کاهش یا حذف آفلاتوکسین‌ها به خصوص آفلاتوکسین m1 است. از طرفی، تولید محصولات لبنی پروبیوتیک به منظور بهبود سلامت جامعه از اهداف دیگر صنعت لبنیات است. از این رو در این تحقیق سعی شد با استفاده از میدان پالس الکتریکی در دامنه 10 تا 30 میکروثانیه، ازن دهی در دامنه صفر تا 10 میلی گرم بر دقیقه و تابش فرابنفش در بازه صفر تا 5 ژول بر سانتی متر مربع در شیر اسیدوفیلوس تا به محصولی عاری از آفلاتوکسین و در عین حال پروبیوتیک دست یابیم. برای بررسی تاثیر فرآیندهای به کار رفته از طرح آماری سطح پاسخ به روش مرکب مرکزی در قالب مدل درجه دوم کامل استفاده گردید به طوریکه فرآیندهای مذکور به عنوان متغیرهای عملیاتی در نظر گرفته شدند. نتایج نشان دهنده تاثیر معنی دار متغیرهای مستقل و همچنین تاثیر سینرژیستی آن ها در سطح 0.05 بر کاهش میزان آفلاتوکسین در شیر اسیدوفیلوس بود. شرایط عملیاتی بهینه بر اساس کمترین مقدار آفلاتوکسین در شیر اسیدوفیلوس شامل 13.15 میکروثانیه پالس در میدان الکتریکی، غلظت 9.99 میلی گرم در دقیقه از ازن و شدت 4.99 ژول بر سانتیمتر مربع از امواج فرابنفش بود. در شرایط بهینه میزان ph برابر با 6.22، اسیدیته 19.76 درجه دورنیک، ماده خشک 10.69 درصد، تغییر رنگ کلی برابر با 8.13 واحد و امتیاز پذیرش کلی نمونه برابر با 4.77 بود. در نهایت با اعمال این شرایط به ترتیب 84.61 و 86.76 درصد از آفلاتوکسینm1 و کل آفلاتوکسین‌ها کاهش یافت و محصول نهایی حاوی cfu/g 10×5.2 لاکتوباسیلوس اسیدوفیلوس بود.
کلیدواژه آفلاتوکسین، ازن، شیر اسیدوفیلوس، فرابنفش، میدان پالس الکتریکی
آدرس دانشگاه آزاد اسلامی واحدقوچان, گروه علوم و صنایع غذایی, ایران, دانشگاه آزاد اسلامی واحد قوچان, گروه علوم و صنایع غذایی, ایران, دانشگاه آزاد اسلامی واحد قوچان, گروه علوم و صنایع غذایی, ایران, سازمان تحقیقات، آموزش و ترویج کشاورزی, مرکز تحقیقات و آموزش کشاورزی و منابع طبیعی خراسان رضوی, ایران
 
     
   
Authors
  
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved