|
|
|
|
تحلیل تاثیرپذیری الکترومغناطیسی خطوط ریزنوار ابررسانا در تابش مایل
|
|
|
|
|
|
|
|
نویسنده
|
امینی محمدحسین ,ملاح زاده علیرضا
|
|
منبع
|
الكترومغناطيس كاربردي - 1400 - دوره : 9 - شماره : 1 - صفحه:51 -54
|
|
چکیده
|
مدارهای مایکروویو ابررسانا از عنصرهایی متشکل از خطوط انتقال ابررسانا ساخته میشوند. هر چند که ابررساناها عملکرد سامانه را در سرعت بالا و کف نویز پایین فراهم میکند، اما تزویج میدان الکترومغناطیسی خارجی به آنها میتواند در عملکرد این سیستمها اختلال بهوجود آورد. در این مطالعه ابتدا در حوزه طیفی یک رهیافت کلی جهت تحلیل رفتار الکترومغناطیسی ساختارهای ابررسانا در زوایای تابش مختلف ارائه میشود. سپس به کمک روش ارائه شده، تاثیرپذیری خطوط ریزنوار ابررسانا در تابش مایل مورد بررسی قرار میگیرد. این بررسی اثر ضخامت فیلم ابررسانا بر تاثیرپذیری خط را شامل میشود. مطابق با نتایج حاصل شده، بیشینه حساسیتپذیری برای تمام ضخامتها با توجه به طول معمول بهکار رفته در مدارات، در تابش با زاویه 80 درجه اتفاق میافتد اما مقدار آن برای ضخامتهای مختلف متفاوت است. رفتار متفاوت جریان القایی در ضخامتهای مختلف بهعلت تفاوت در امپدانس معادل ساختار است. همچنین از آنجا که برای فیلمهای نازک راکتانس معادل بیشتر است، میزان حساسیتپذیری کمتر میگردد.
|
|
کلیدواژه
|
تاثیرپذیری، ابررسانایی، حوزه طیفی، روش ممان
|
|
آدرس
|
دانشگاه شاهد, ایران, دانشگاه شاهد, ایران
|
|
پست الکترونیکی
|
mallahzadeh@shahed.ac.ir
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
On the Analysis of Electromagnetic Susceptibility of Superconducting Microstrip Transmission Lines in Oblique Incidence
|
|
|
|
|
Authors
|
Amini M. H. ,Mallahzadeh A. R.
|
|
Abstract
|
Superconducting microwave circuits are composed of components made from superconducting microstrip transmission lines (SMTLs). The spatial features of the superconductors provide the system operation at high speed and low noise floor. However, coupling the external electromagnetic field in these systems reduces or nullifies their performance. In this article a general solution for evaluating the electromagnetic behavior of SMTL in different incidence angles is proposed. The analysis is portrayed in the spectral domain. Using the proposed approach, the electromagnetic susceptibility (EMS) of the line is evaluated for oblique incidence. It is investigated for different film thicknesses. The study reveals that the line’s susceptibility has the highest value at 80o. But, its value varies for different thicknesses. Different behavior of the induced current for different thicknesses is due to the difference in equivalent impedance. Moreover, due to increase in the equivalent reactance, the line’s susceptibility is decreased as the film thickness is decreased.
|
|
Keywords
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|