استفاده از سیستمهای طبقهبندی چندگانه بهمنظور بهبود دقت طبقهبندی تصاویر تمام پلاریمتریک راداری با فضای ویژگی ابعاد بالا
|
|
|
|
|
نویسنده
|
خسروی ایمان ,آخوندزاده مهدی
|
منبع
|
مهندسي فناوري اطلاعات مكاني - 1393 - دوره : 2 - شماره : 3 - صفحه:69 -84
|
چکیده
|
یک تصویر تمام پلاریمتریک راداری (polsar) قابلیت فراهمکردن یک داده با فضای ویژگی ابعاد بالا را دارد. این حجم بالای اطلاعاتی میتواند دقت کلی طبقهبندی پوشش زمینی را افزایش دهد. اما افزایش ابعاد داده در صورت ناکافی بودن تعداد نمونه های آموزشی ممکن است باعث پیچیده تر شدن طبقه بندی و رخ دادن پدیده نفرین ابعاد شود. یکی از راهکارهای حل این مشکل، استفاده از سیستم های طبقه-بندی چندگانه (mcs) است که توانایی تقسیم و غلبه بر حجم بالای داده در مقایسه با طبقه بندیکننده های تکی را داراست. حتی برخی از روش های mcs می توانند با به کارگیری طبقه بندی کننده های ضعیف و ناپایدار همچون درخت تصمیم (dt) و شبکه عصبی (nn) به دقت بالایی در طبقه بندی ابعاد بالا دست یابند. هدف این مقاله نیز استفاده از چند روش مشهور mcs همچون آدابوست، بگینگ و جنگلهای تصادفی بهمنظور بهبود دقت طبقه بندی پوشش زمینی از تصاویر polsar با ابعاد بالا است. داده های استفاده شده در این مقاله، تصاویر راداری رادارست-2 از منطقه سانفرانسیسکو و تصویر ایرسار از منطقه فلوولند است. برای طبقهبندی این دو تصویر، 69 ویژگی پلاریمتریک از آن ها استخراج شد. دو جداساز nn و dt به عنوان طبقهبندی کننده پایه روشهای آدابوست و بگینگ انتخاب شد. در ادامه، روشهای mcs با طبقه بندی کننده های تکی nn و dt مقایسه شد. نتایج، نشان از دقت کلی بیشتر روش های mcs بین 5%-8% برای طبقه بندی تصویر اول و 9% تا 16% برای طبقه بندی تصویر دوم داشت. حتی دقت تولید کننده و دقت کاربر روش های mcs در تمام کلاس ها نسبت به طبقهبندی کنندههای تکی بیشتر بود. به گونه ای که در برخی کلاس ها این اختلاف بین 20% تا حتی نزدیک به 50% شد. این نتایج نشان داد که روش های mcs در مقایسه با طبقهبندی کننده های تکی نه تنها قادر به تولید دقت کلی بیشتر در طبقه بندی پوشش زمینی است، بلکه حتی کارایی و اعتمادپذیری نسبی بالاتری در تفکیک تک تک کلاس ها دارد.
|
کلیدواژه
|
سیستم طبقه بندی چندگانه ,تصاویر تمام پلاریمتریک ,رادار ,فضای ویژگی ابعاد بالا
|
آدرس
|
دانشگاه تهران, دانشجوی دکتری سنجش از دور، دانشکده مهندسی نقشه برداری و اطلاعات مکانی، دانشگاه تهران, ایران, دانشگاه تهران, استادیار دانشکده مهندسی نقشهبرداری و اطلاعات مکانی دانشگاه تهران, ایران
|
|
|
|
|
|
|