استنباط آماری در مورد آزمون عمر شتابیده برای دستگاه یک‌بار شلیک با ریسک رقابتی

این مقاله به مدل‌سازی و تجزیه و تحلیل مدل ریسک‌های رقابتی برای دستگاه یک‌بار شلیک، تحت آزمون عمر شتابیده تنش ثابت می‌پردازد. در تجزیه و تحلیل قابلیت اطمینان یک دستگاه مهم است، بتوانیم علل اصلی خرابی را شناسایی کنیم. بنابراین مدل ریسک رقابتی مورد استفاده قرار می‌گیرد. ما مدل ریسک رقابتی را در دو حالت مشاهده دلیل خرابی و دلیل خرابی پوشانده شده، در نظر می‌گیریم. داده‌های به‌دست‌آمده از آزمایش دستگاه یک‌بار شلیک، مفقود شده‌اند. از این‌رو، الگوریتم em به همراه روش امتیازدهی فیشر برای براورد پارامترهای مدل استفاده می‌شوند. همچنین، برای کم‌کردن زمان و هزینه، آزمون عمر شتابیده استفاده می‌شود. به علاوه، در انتها به منظور براورد دقیق قابلیت اطمینان محصول، طرح آزمون بهینه می‌شود. با توجه به داده‌های شبیه‌سازی شده، نتیجه می‌گیریم که الگوریتم em و فاصله اطمینان بوت استرپ روش‌های مناسبی برای براورد هستند. به علاوه، کوتاه شدن مدت آزمون منجر به دستیابی به طرح آزمون بهینه می‌شود.

Inference on Accelerated Life Testing for One-Shot Device with Competing Risks

This article deals with modelling and analysis of the competing risks for a oneshot device under a constant stress accelerated life test. In a reliability analysis of a device, it is important to be able to identify the main causes of failure. Therefore, a competing risk model is generally used. We consider this model in two modes: observed and masked causes of failure. The data obtained from oneshot device testing are missing in fact. For this reason, the EM algorithm along with the Fisher scoring method are used to estimate the model parameters. An accelerated life test is also used to shorten the time and cost. In addition, in order to accurately estimate the product reliability, the test design is finally optimized. Based on the simulated study, it is concluded that the EM algorithm and the bootstrap confidence interval are more accurate than the other methods. Also, shortening the test length leads to achieve an optimal test design.