همبستگی بین ساختار کریستالی و ویژگی های اپتیکی لایه های نازک اکسیدروی آلایش یافته با مس

لایه های نازک اکسید روی خالص و آلایش یافته با مس توسط کندوپاش مغناطیسی فرکانس رادیویی تهیه ، شد. ویژگیهای ساختاری و اپتیکی این لایههای نازک به کمک تکنیکهای مشخصهیابی پراش اشعه ایکس میکروسکوپ نیروی اتمی ، طیف سنج نوری ، فوتولومینسانس مورد بررسی قرار گرفت. لایه های نازک اکسید روی نقصهای کریستالی و میکرو تنشهای را در شبکه کریستالی نشان دادند. بازپخت لایه اکسید روی در ساختار هگزاگنال c آلایش یافته با مس اندازه کریستالی را در جهت بلوری ( 002 ) افزایش داد. پارامتر شبکه به دلیل تطبیق اتمهای مس در موقعیتهای تعادلی کاهش یافت. بازپخت لایه اکسید روی آلایش یافته با مس شدت پیک فوتولومینسانس را افزایش داد و آلایش مس در ساختار کریستالی لایه های نازک اکسید روی باعث ایجاد نشر نور سبز در 530 نانومتر گردید

correlation between crystal structure and optical properties of copper- doped zno thin films

zno and cu doped[1] (czo) thin films were prepared by radio frequency sputtering. the structural and optical properties of thin films were investigated using x-ray diffraction (xrd), atomic force microscopy (afm), optical spectrophotometer, and photoluminescence (pl) techniques. zno thin films showed crystalline and micro-stress defects in the crystal lattice. annealing of czo thin films increased the crystal size in the crystalline direction (002). the c lattice parameter decreased due to the matching of copper atoms in equilibrium positions. also, the peak intensity of pl czo thin films increased by annealing and cu doping of zno thin films caused the emission of green light at 530 nm