بهینه‌سازی تحلیل شکل قله ایکس‌ پی ‌اس برای مطالعه ریخت نانوسیم‌ های طلای درآمیخته با پلیمر

روشی بهینه برای تحلیل شکل قله ایکس‌پی‌اس برای شناسایی دقیق نانوساختارهای فلزی درآمیخته با یک ماتریس پلیمری ارائه می‌شود. در این‌جا، توزیع عمقی نانوسیم‌های استوانه‌ای طلای در آمیخته با پلیمر با جزییات به‌دست می‌آید، که در آن تنها از تحلیل یک طیف در گسترة وسیعی از انرژی (حداقل تا 50 الکترون‌ولت پایین‌تر از انرژی قله) و کاهش زمینة ایجاد شده در اثر برخوردهای ناکشسان الکترون‌ها با لحاظ ترابرد الکترون مربوط به هر دو مولفة فلزی و پلیمری استفاده شده است. این بدان معنی است که روشی بسیار ساده و غیر مخرب برای تصویربرداری سه بعدی غیر مستقیم ایکس‌پی‌اس برای شناسایی درخط نانوساختارهای سطحی دو مولفه‌ای شامل فلز و پلیمر ایجاد شده است که این می‌تواند روشی بسیار مناسب برای استفاده در خطوط کنترل کیفیت تولید چنین نانوساختارهای سطحی باشد.

An improvement in XPS peak shape analysis for studying the morphology of gold nanowires intermixed with polymer

We have improved XPS peak shape analysis for accurate characterization of metal nanostructures intermixed with a polymer matrix. We have determined the detailed in depth distribution of cylindrical Au nanowire in polymer matrix by the analysis of a single spectrum by taking into account the electron transport phenomena corresponding to both metal and polymer components. This means that we have made a very simple and nondestructive indirect 3D XPS imaging technique for accurate inline characterization of binary component surface nanostructures including metal and polymer. This is a very promising technique which is suitable for inline quality control of such surface nanostructures.