تهیه لایه نازک سولفید روی دوپ شده با نقره به روش کندوپاش مغناطیسی فرکانس رادیویی

در این تحقیق، لایه های نازکی از سولفید روی دوپ شده با نقره (zns:ag) با استفاده از روش کندوپاش مغناطیسی فرکانس رادیویی (rf) بر روی زیرلایه های شیشه لایه نشانی شدند. برای حصول لایه نازک بهینه، فشارهای کاری مختلف در محدود torr 3-10×5/1 تا torr 1-10×1 مورد بررسی قرار گرفتند. لایه های نازک بدست آمده با استفاده از پراش پرتوی ایکس (xrd)، میکروسکوپ نیروی اتمی (afm)، میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem)، طیف سنجی جذب اتمی (aas) و آنالیز میکروپروب اشعه ایکس (xpma) مورد شناسایی قرار گرفتند. نتایج نشان داد که فشار کاری torr 2-10×5 بهترین پوشش را از نظر ترکیب شیمیایی و مورفولوژی حاصل میکند.