>
Fa   |   Ar   |   En
   اندازه‌گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطّی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی  
   
نویسنده اطمینان مهسا ,حاج‌اسماعیل‌بیگی فرشته ,کوهیان عطا الله ,گلیان یاسمن ,معتمدی اسما السادات
منبع فيزيك كاربردي ايران - 1392 - دوره : 3 - شماره : 1 - صفحه:67 -74
چکیده    در این مقاله لایه های نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه‌ها با استفاده از روش روبش- z اندازه گیری و بررسی شده است. جزییات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارایه شده است. برای انجام آزمایش روبش-z از لیزر موج پیوسته با طول موج 532 نانومتر و توان 130 میلی‌وات استفاده کردیم. علامت و اندازه ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش-z محاسبه شده است.
کلیدواژه لایه نشانی لیزر پالسی ,لایه های نازک نانوساختاری ,ضریب جذب غیرخطی ,ضریب شکست غیرخطی
آدرس دانشگاه تهران, دانشجوی کارشناسی ارشد فیزیک, ایران, پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای, هییت علمی پژوهشکده لیزر و اپتیک, ایران, دانشگاه تهران, دانشیار فیزیک, ایران, پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای, هییت علمی پژرهشکده لیزر ر اپایک, ایران, پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای, هییت علمی پژرهشکده لیزر ر اپایک،, ایران
 
     
   
Authors
  
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved