>
Fa   |   Ar   |   En
   مدار دینامیکی جدید برای طراحی مقایسه‌کننده نشانه توان پایین  
   
نویسنده آسیایی محمد
منبع مهندسي برق دانشگاه تبريز - 1398 - دوره : 49 - شماره : 1 - صفحه:1 -11
چکیده    در این مقاله یک مدار دینامیکی جدید برای کاهش توان مصرفی مقایسه‌کننده‌های نشانه پیشنهاد می‌شود. برای کاهش توان مصرفی در مدار دینامیکی پیشنهادی از ترانزیستورهای nmos برای پیش‌بار گره دینامیکی استفاده شده است. بدین طریق دامنه تغییرات ولتاژ گره دینامیکی کم شده و توان مصرفی کاهش می‌یابد. شبیه‌سازی گیت‌های or عریض و مقایسه‌کننده‌های نشانه 40 بیتی با استفاده از نرم‌افزار hspice در فناوری 90 نانومتر cmos انجام شده است. نتایج شبیه‌سازی گیت‌های or 32 بیتی در تاخیر یکسان، 42% کاهش توان و 1.68 برابر بهبود مصونیت در برابر نویز را نسبت به مدار دینامیکی متداول نشان می‌دهند. همچنین نتایج شبیه‌سازی بیانگر 52% و 16% کاهش به‌ترتیب در توان مصرفی و تاخیر مقایسه‌کننده نشانه پیشنهادی نسبت به نوع متداول آن تحت مصونیت در برابر نویز یکسان است.
کلیدواژه مقایسه‌کننده نشانه، مدارهای دینامیکی، جریان نشتی، مصونیت در برابر نویز
آدرس دانشگاه دامغان, دانشکده فنی و مهندسی, ایران
پست الکترونیکی m.asyaei@du.ac.ir
 
   New Dynamic Circuit for Low Power Tag Comparator Design  
   
Authors Asyaei M.
Abstract    In this paper, a new dynamic circuit is proposed to reduce power consumption of tag comparators. To reduce the power consumption in the proposed dynamic circuit, NMOS transistors are used to precharge the dynamic node. In this way, voltage swing on the dynamic node is decreased and hence the power consumption is reduced. Simulation of wide fanin OR gates and 40bit tag comparators are done using HSPICE simulator in a 90nm CMOS technology model. Simulation results exhibit 42% power reduction and 1.68× noiseimmunity improvement at the same delay compared to the conventional dynamic circuit for 32bit OR gates. Moreover, simulation results demonstrate 52% and 16% reduction in the power consumption and delay of the proposed tag comparator, respectively, at the same noise immunity compared to the conventional one
Keywords
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved