پیش‌بینی غیرمخرب سفتی سیب در طول دوره انبارداری بر پایه تصاویر نقطه‌ای دینامیکی

تصویربرداری بایواسپکل یا استفاده از تصاویر نقطه‌ای دینامیکی به‌عنوان یک روش نوری نوین در ارزیابی غیر مخرب کیفیت محصولات کشاورزی غذایی طی سال‌های اخیر مورد توجه قرار گرفته است. در این پژوهش، توانایی این روش در ارزیابی شاخص سفتی میوه سیب (رقم رد دلیشس) در طول 5 ماه انبارداری بررسی شد. برای این منظور، تصاویر نقطه‌ای دینامیکی از نمونه‌های سیب در دو طول موج 680 و 780 نانومتر به‌طور جداگانه و در طی دوره انبارداری تحصیل و پردازش شد. در این راستا، افزون بر ویژگی‌های مرسوم در تحلیل تصاویر نقطه‌ای دینامیکی، ویژگی های مبتنی بر تبدیل موجک و بافت نیز مورد بررسی قرار گرفت. از سوی دیگر، اندازه‌گیری سفتی بافت میوه‌ها از طریق آزمون مخرب نفوذ تعیین شد. در نهایت، توانایی این روش در پیش‌بینی سفتی میوه سیب با تدوین مدل‌های رگرسیون غیرخطی مورد ارزیابی قرار گرفت. نتایج نشان داد که روش مذکور قادر به پیش‌بینی غیر مخرب ویژگی سفتی سیب‌ است. نتایج نشان داد، بهترین مدل واسنجی تدوین‌شده توانسته با ضریب همبستگی 81/0 = rp و خطای استاندارد n4/8 = sep در طول موج 680 نانومتر و همچنین ضریب همبستگی 83/0 = rp و خطای استاندارد n2/8 = sep در طول موج 780 نانومتر، ویژگی سفتی سیب را پیش‌بینی‌ کند.