>
Fa   |   Ar   |   En
   تفکیک محدوده و تخمین سطح زیر کشت محصولات کشاورزی به کمک تصاویر ماهواره‌ای +ETM (مطالعه موردی: مزرعه نمونه آستان قدس رضوی)  
   
نویسنده علیپور فریده ,آق خانی محمدحسین ,عباسپور فرد محمدحسین ,سپهر عادل
منبع ماشين هاي كشاورزي - 1393 - دوره : 4 - شماره : 2 - صفحه:244 -254
چکیده    بررسی و مطالعه بر روی تکنیک سنجش از دور نشان می‌دهد که تصاویر ماهواره‌ای و تکنیک‌های سنجش از دور، به دلیل فراهم آوردن داده‌های به‌هنگام و قابلیت بالای آنالیز تصاویر، کاربرد گسترده‌ای در تمامی بخش‌ها از جمله کشاورزی و منابع طبیعی دارند. در پژوهش حاضر، به منظور شناسایی و تفکیک اراضی زیر کشت محصولات مختلف و تهیه نقشه انواع محصولات منطقه‌ای در اطراف مشهد (مزرعه نمونه آستان قدس رضوی) از دو تصویر (مربوط به ماه‌های اردیبهشت و شهریور) داده‌های رقومی ماهواره لندست، سنجنده etm+ مربوط به سال 1391 استفاده شد. جهت طبقه‌بندی تصویر در هر یک از این دو ماه، از روش طبقه‌بندی نظارت شده شامل حداکثر احتمال و شبکه عصبی مصنوعی استفاده شد. برای مقایسه تصویر حاصل از دو روش، نمونه‌های تعلیمی و آزمایشی و روش کار کاملاً یکسانی برای هر دو روش انتخاب شد. جهت ارزیابی صحت نتایج طبقه‌بندی، نقشه تولیدی با نقاط واقعیت زمینی مشخص شده از طریق gps، مورد بررسی قرار گرفت. ضریب کاپا و صحت کلی برای روش حداکثر احتمال به ترتیب82 و 85 درصد و برای شبکه عصبی به‌ترتیب 84 و 87 درصد برآورد گردید. مساحت‌های سطح زیر کشت محاسبه شده از نقشه طبقه‌بندی به روش حداکثر احتمال و شبکه عصبی توانست به‌ترتیب با اختلاف متوسط 8/16 و 2/14درصد با اطلاعات مساحت‌های موجود در مزرعه آستان قدس مساحت محصولات مختلف را تخمین بزند. نتایج این تحقیق نشان داد که تصاویر ماهواره‌ای از قابلیت بالایی برای تفکیک سریع اراضی زراعی و تهیه ‌نقشه انواع محصولات در منطقه و تعیین سطح زیر کشت با دقت نسبتاً مناسب در مقیاس منطقه‌ای برخوردار است. این اطلاعات برای برنامه ریزی‌های کلان منطقه‌ای در قالب تدوین الگوی کشت یا توسعه مکانیزاسیون بسیار مفید می‌باشند.
کلیدواژه حداکثر احتمال ,سنجش از دور ,ETM+ ,طبقه بندی شبکه عصبی ,محصولات کشاورزی
آدرس دانشگاه فردوسی مشهد, ایران, دانشگاه فردوسی مشهد, ایران, دانشگاه فردوسی مشهد, ایران, دانشگاه فردوسی مشهد, ایران
 
     
   
Authors
  
 
 

Copyright 2023
Islamic World Science Citation Center
All Rights Reserved