|
|
|
|
مقدمه‌ای بر روش تحلیلی پراش الکترون‌های به عقب رانده شده (EBSD)
|
|
|
|
|
|
|
|
نویسنده
|
عباسی مهرداد ,عباسی مجید
|
|
منبع
|
مواد نوين - 1392 - دوره : 3 - شماره : 11 - صفحه:59 -72
|
|
چکیده
|
در این نوشتار مقدمه ای بر روش کارآمد و در حال تکامل (ebsd) electron backscattered diffraction ارایه می‌شود. روش پراش الکترون‌های به عقب رانده شده(ebsd) توانایی‌های قابل‌توجهی در بررسی‌کمی و کیفی ریزساختار دارد. توسعه ebsdبتازگی مورد توجه وسیع صنایع و مراکز پژوهشی قرار گرفته، به گونه‌ای‌که به روش اصلی بررسی ریزساختار در بسیاری از این مراکز تبدیل شده است. این روش در محاسبه جهات بلوری ریزساختارها (nano and microstructures)، تشخیص فاز و میزان توزیع فازها کاربرد دارد. شواهد اولیهebsd در سال 1928 در میکروسکوپ الکترون عبوری(tem) دیده شد و تا به امروز پیشرفت‌های شایانی در بهبود تصویر و استخراج داده‌ها صورت گرفته است. از آن جمله می‌توان به توسعه سخت افزار، تهیه نرم افزارها، ابداع روش‌های مشاهده تصویر و کمیت‌سازی ریزساختار اشاره کرد. اصول،تاریخچه،کاربردها و چندین مثال کاربردی ازebsdد در این نوشتار ارایه می‌شوند.
|
|
کلیدواژه
|
پراش الکترون‌های به عقب رانده شده(EBSD) ,بررسی کمی ریزساختار ,تصویربرداری جهتی(OIM) ,اختلاف جهتی
|
|
آدرس
|
دانشگاه صنعتی اصفهان, ایران, پسادکترا، دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه بریگام یانگ، ایالت یوتا- آمریکا، در گذشته: پژوهشگر همکار در شرکت ایدکس - تی اس ال، ایالت یوتا- آمریکا., امریکا
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Authors
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|