آماده‌سازی پوشش‌های نانو Tio2 دوپ شده با هر دو یون نیتروژن و سریم و بررسی خواص فتوکاتالیستی آنها

پوشش‌های نانو tio2 خالص و دوپ شده با سریم و نیتروژن به روش سل-ژل و غوطه‌وری بر روی سطح شیشه-‌سرامیک آی پی اس ایمپرس? ایجاد شد. نمونه‌ها به مدت ? ساعت در دمای °c ??? عملیات حرارتی شدند. سپس ساختار بلوری نمونه‌ها با استفاده از تکنیک پراش پرتو ایکس (xrd) و ریزساختار نمونه‌ها با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) مورد مطالعه قرار گرفت و خواص نوری آنها به کمک طیف ‌سنج جذبی انعکاسی uv-visو در پایان اثر فتوکاتالیستی از طریق اندازه‌‌گیری میزان تخریب و تجزیه‌ متیل اورانژ بر اثر تابش نور (طول موج nm ???=?) مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان داد که با دوپ سریم و نیتروژن در ساختار tio2، فاز اصلی نمونه‌ها آناتاز است و با افزایش میزان دوپ اندازه بلورک‌ها کاهش می‌یابد. از طرف دیگر جذب نور tio2 دوپ شده با افزایش دوپ سریم و نیتروژن، افزایش می‌یابد و دوپ سریم باعث می‌شود طیف جذبی به سمت محدوده مریی حرکت کند و مشخص گردید که پوشش‌های tio2 دوپ شده فعالیت فتوکاتالیستی قوی‌تری نسبت به tio2 خالص دارند. نتایج آزمایش‌ها نشان داد که دوپ سریم (با نسبت درصد سریم به تیتانیوم: 1%) و دوپ نیتروژن (با نسبت مقدار اوره به تترا ان بوتیل تیتانات: ?/??) در ساختار tio2 خواص فتوکاتالیستی فاز آناتاز tio2 را بهبود می‌دهد.