بررسی تاثیر اضافه شدن تترااتیل اورتوسیلیکات (Teos) بر ساختار میکروسکوپی و خواص لومینسانس نانو ذرات مواد فسفری Y2o3: Tb3+

در این پژوهش ابتدا نانو پودر y2o3: tb +3 با اندازه تقریبی ذرات 80 نانومتر به روش سلژل فرآوری گردید. سپس از طریق اضافه نمودن تترااتیل اورتوسیلیکات (teos) به مواد اولیه مورد نظر، ترکیبات دوپ شده yso در حضور مقادیر مختلفی از فاز sio2 تولید و ساختار کریستالی و میکروسکوپی و همچنین خواص لومینسانس مواد تولید شده مورد ارزیابی قرار گرفت. به منظور مطالعه فازهای تشکیل شده و همچنین اندازه ذرات و مورفولوژی ساختارهای سنتز شده y2o3: tb +3 و ترکیبات yso: tb +3، به ترتیب آنالیزگر پراش با اشعه ایکس (xrd) و میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی (fesem) مورد استفاده قرار گرفتند. در این تحقیق بصورت جالبی دیده شد که افزودن سیلیکا باعث رشد چشمگیری در اندازه دانه ها می گردد و این اندازه به حدود 400-300 نانومتر می رسد. ضمنا با به خدمت گیری یک آنالیزگر خواص فتو لومینسانس، خواص نوری این مواد مورد بررسی قرار گرفت. در نهایت مشخص شد که در حالتیکه مقدار فاز sio2 مصرفی به اندازه استوکیومتری لازم جهت تشکیل y2sio5 باشد بالاترین شدت انتشار حاصل شده و مقادیر بیشتری از sio2 به کاهش این شدت منجر می گردد.

Study of Addition of Tetraethyl Orthosilicate (TEOS) on Microstructure and Iuminescence Properties of Nanoparticles of Y2O3: Tb3+ Phosphor Materials

In this investigation, firstly Y2O3: Tb +3 nanopowders with the approximate size of 80 nm was synthesized via solgel approach. Then, with the addition of Tetraethyl orthosilicate (TEOS) to the considered raw materials, the doped YSO compounds were produced in the presence of different amounts of SiO2 and crystallographic and microscopic structure and also the luminescence properties of the produced materials were evaluated. To study the formed phases and also particle size and morphology of Y2O3: Tb +3 and YSO: Tb +3 synthesized structures, Xray diffraction (XRD) and field emission scanning electron microscope (FESEM) were used. In this research, interestingly it was seen that the addition of silica results in the severe grain growth and this size reaches to 300400 nm. In addition, with the employment of photoluminescence analyzer, the optical properties of these materials were studied. Finally, it was determined that in a case that the quantity of consumed SiO2 phase is equal to the stoichiometric values required for the formation of Y2SiO5, the highest emission intensity is achieved and the higher amounts of SiO2 leads to the reduction of intensity.