اندازه‌گیری نیم‌رخ باریکه شتاب دهنده 200-es با استفاده از نمایشگر الکترون ثانویه

ابزارهای مختلفی برای اندازه‌گیری نیم‌رخ باریکه ساخته شده است. نمایشگرهای الکترون ثانویه یکی از ابزارهایی هستند که برای این هدف مورد استفاده قرار می‌گیرند. در 200-esاین مقاله طراحی و ساخت نمایشگر الکترون ثانویه برای اندازه‌گیری نیم‌رخ باریکه شتاب‌دهنده الکترواستاتیکمورد بررسی قرار می‌گیرد. شبکه‌های مشبک این ساختار شامل 16 سیم افقی و 16 سیم عمودی هستند که نسبت به یکدیگر عایق شده‌اند. باریکه با جریان بیشینهو انرژی حداکثر μa400 kev200 به سیم‌ها برخورد کرده و بار سیم‌ها توسط سیستم الکترونیکی مبدل جریان به ولتاژ جمع‌آوری می‌شود. داده‌های آنالوگ توسط چهار عدد مالتی پلکسر به ریزپردازنده انتقال 232-rsیافته و دیجیتال می‌شوند. داده‌ها از طریق به برنامه کامپیوتری که بدین منظور نوشته شده است انتقال یافته و نیم‌رخ باریکه  را می‌توان مشاهده نمود

Beam profile measurement of ES-200 using secondary electron emission monitor

Up to now, different designs have been introduced for measurement beam profile accelerators. Secondary electron emission monitors (SEM) are one of these devices which have been used for this purpose. In this work, a SEM has been constructed to measure beam profile of ES200 accelerator, a proton electrostatic accelerator which is installed at SBU. Profile grid for both planes designed with 16 wires which are insulated relative to each other. The particles with maximum energy of 200 keV and maximum current of 400 μA are stopped in copper wires. Each of the wires has an individual currenttovoltage amplifier. With a multiplexer, the analogue values are transported to an ADC. The ADCs are read out by a microcontroller and finally profile of beam shows by a user interface program