|
|
خطوط باریکه چشمه نور ایران
|
|
|
|
|
نویسنده
|
غلام پورآژیر اعظم ,امیری سمیه ,خسروآبادی حسین ,رحیقی جواد ,لامعی رشتی محمد
|
منبع
|
پژوهش فيزيك ايران - 1394 - دوره : 15 - شماره : 2 - صفحه:197 -204
|
چکیده
|
در این مقاله خطوط باریکه روز اول راه اندازی چشمه نور ایران و مشخصات آن ها معرفی می شوند. از میان این خطوط باریکه، طراحی مفهومی دو خط باریکه طیف سنجی میکروسکوپیکی، و پراش پودری، به عنوان پرکاربردترین خطوط باریکه، انجام شده است. در این مقاله به بررسی مشخصه های پرتو چشمه نور، طراحی اپتیکی، مشخصات شار فوتونی در مکان نمونه 630kevقطعات و ردیابی پرتو فوتون در این خطوط باریکه پرداخته شده است. خط باریکه پراش پودری محدوده انرژی کارکردی را دارد. محدوده انرژی خط باریکه طیف سنجی میکروسکوپیکی e/e=104 delta; وقدرت تفکیک انرژی 0/1 ×0/110 ×1mm2 سطح مقطع پرتو فوتونی در مکان نمونه برابر با96evاست که از یک مغناطیس نوسان ساز خطی گسیل می شود. بیشینه شار فوتون گسیل شده در انرژی هارمونیک اصلی ev902500 پرتو فوتونی با بیشینه توان تفکیک پذیری18201000 evاستهمچنین، در انرژی در مکان نمونه ایجاد می شودh ×v= 4 ×2 27 ×74 mu;m و سطح مقطع در محدود
|
کلیدواژه
|
خط باریکه، پراش پودری، طیف سنجی میکروسکوپیکی، اپتیک پرتوx
|
آدرس
|
پژوهشگاه دانش های بنیادی, ایران, پژوهشگاه دانش های بنیادی, ایران, پژوهشگاه دانش های بنیادی, ایران, پژوهشگاه دانش های بنیادی, ایران, پژوهشگاه دانش های بنیادی, ایران
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Beamlines for Iranian Light Source Facility
|
|
|
Authors
|
Gholampour Azhir A ,Amiri S ,Khosroabadi H ,Rahighi J ,Lamehi Rachti M
|
Abstract
|
This paper describes dayone beamlines of the Iranian Light Source Facility and design concept of powder diffraction and spectromicroscopy beamlines as the most priorities of each synchrotron that cover the research requirements in the fields of physics, chemistry, nanoscience, etc. For powder diffraction beamline energy range is 630 keV, resolution: 104, flux: 1012(ph/s/0.1%B.W.) and spot size at sample is 0.1 ×0.11 ×10 mm2. For spectromicroscopy beamline energy range is 902500 eV, flux: 3 ×1015(ph/s/0.1%B.W.@96eV), resolving power of 1820 at 1000 eV and spot size at sample is 4 ×227 ×74 micro;m2
|
Keywords
|
beamline ,Powder diffraction ,spectromicroscopy ,X-ray optics
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|