لایه‌نشانی نانوذرات کادمیوم تلوراید روی زیرلایه‌های رسانای شفاف به روش تبخیر حرارتی

نانوذرات کادمیوم تلوراید با روش تبخیر حرارتی در دمای زیرلایۀc °200 و فشارmbar 2*10^-5 بر روی زیرلایه های شیشه ای که با لایه های نازک شفاف و رسانای اکسید ایندیم آلاییده به قلع (ito) و اکسید قلع آلاییده شده با فلورین (fto) پوشش داده شده است، لایه نشانی شد. ضخامت لایه‌های تهیه شده حدود 200nm تعیین شد. ساختار، خواص اپتیکی، الکتریکی و ریخت‌شناسی سطح لایه ها به ترتیب توسط پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی فرابنفش - مرئی (uv -vis)، مشخصه یابی جریان - ولتاژ (i- v) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) تحلیل شدند. طیف های xrd ساختار مکعبی لایۀ نازک کادمیوم تلوراید لایه نشانی شده بر روی هر دو زیرلایۀ ito و fto را نشان می دهند. جهت گیری ترجیحی فیلم های لایه نشانی شده نیز از راستای (111) برای زیرلایۀ ito به (220) برای زیرلایۀ fto تغییر کرد. اندازۀ بلورینگی لایه ها روی ito و fto در این راستاها به ترتیب برابر با حدود 23/41 و 34/84 نانومتر به دست آمد. با استفاده از طیف سنجی uv vis در محدودۀ طول موج 1200-200nmطیف های عبور از لایه های نازک مشخص شد. گاف انرژی اپتیکی لایه های نازک روی زیرلایه های ito و fto به ترتیب 1/60ev و 1/63evمحاسبه شد. منحنی i- v رسانایی الکتریکی بیشتر لایۀ نازک کادمیوم تلوراید بر روی fto را در مقایسه با ito نشان می دهد. تصاویر ریخت‌شناسی سطح، همگنی و یکنواختی سطح را نشان می دهد‏.

Cadmium Telluride (CdTe) nanoparticles deposition on transparent conductive substrates via thermal evaporation

Cadmium telluride (CdTe) nanoparticles were deposited on glass substrates coated by indium tin oxide (ITO) and fluorine doped tin oxide (FTO) as transparent conducting films at 200 °C under pressure of 2×10 5 mbar. The thickness of the prepared films prepared was about 200 nm. The structure, optical, electrical, and morphological properties of the layers were analyzed by x ray diffraction (XRD), ultraviolet visible (UV Vis) spectroscopy, current voltage (IV) characterization, and scanning electron microscopy (SEM), respectively. XRD patterns show the cubic structure of the deposited CdTe thin film on both ITO and FTO substrates. The preferred orientation of deposited films also changed from (111) for ITO substrate to (220) for FTO substrate. The crystallite size of films on ITO and FTO in these orientations were about 23.41 and 34.84 nm, respectively. The thin film transmittance spectra were determined using UV Vis spectroscopy in the wavelength range of 200 1200 nm. The optical energy bandgap of thin films on ITO and FTO substrates was calculated to be 1.60 and 1.63 eV, respectively. The I V curve shows more electrical conductivity of the CdTe thin film on the FTO compared to the ITO. The surface morphology images show homogeneity and uniformity of the surface.