|
|
|
|
مروری بر کاربردهای طیف‌سنجی و تصویربرداری پرتو x سینکروترون
|
|
|
|
|
|
|
|
نویسنده
|
کشتکار وناشی ابوالفضل ,قاسم زاده محمدی حسین ,افراز شیروان ,اصغری زاده سعید ,لامعی رشتی محمد ,حداد منا
|
|
منبع
|
پژوهش فيزيك ايران - 1400 - دوره : 21 - شماره : 1 - صفحه:1 -22
|
|
چکیده
|
تابش سینکروترون، از یک نور قطبی و موازی با درخشندگی خیلی زیاد و شدت بالا تشکیل شده است که شامل گسترۀ وسیعی از طول موج ها، از فروسرخ تا پرتوهای x پرانرژی است. در این مقاله خلاصه‌ای از کاربرد های تابش سینکروترون در طیف‌سنجی و تصویربرداری به کمک پرتو x، ارائه شده است. این کاربرد‌ها شامل پراش پرتو x مواد پودری (xrpd)، پراکندگی پرتو ایکس در زوایای بزرگ (waxs)، پراکندگی پرتو ایکس در زوایای کوچک (saxs)، فلورسانس پرتو x (xrf)، بازتاب سنجی پرتو x (xrr)، جذب لبۀ نزدیک ساختار ظریف پرتو x (nexafs)، جذب لبۀ نزدیک ساختار پرتو x (xanes)، طیف‌سنجی فوتوالکترونی پرتو x (xps)، طیف‌سنجی نشری پرتو x (xes) و تصویربرداری به کمک پرتو x است. این تکنیک ها، برای مشخصه یابی انواع ساختارهای مواد مختلف در اندازه های میکرو و نانو توانایی بالایی دارند. علاوه بر این، استفاده از این فناوری‌ها مزیت‌هائی مانند صحت بیشتر اندازه گیری ها، بهبود نسبت علامت به نوفه، تفکیک فضایی بهتر و سرعت بیشتر جمع آوری داده ها دارد.
|
|
کلیدواژه
|
تابش سینکروترون، طیف‌سنجی پرتو x، تصویربرداری پرتو x
|
|
آدرس
|
دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره), دانشکده علوم پایه, گروه شیمی, ایران, دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره), دانشکده علوم پایه, گروه شیمی, ایران, دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره), دانشکده علوم پایه, گروه شیمی, ایران, دانشگاه تبریز, پژوهشکده فیزیک, ایران, سازمان انرژی اتمی ایران, پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای, ایران, دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره), دانشکده علوم پایه, گروه شیمی, ایران
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
A review of synchrotron X-ray radiation spectroscopy and imaging
|
|
|
|
|
Authors
|
Keshtkar vanashi Abolfazl ,Ghasemzadeh mohammadi Hossein ,Afraz Shiravan ,Asghari zadeh Saeid ,Lamei rashti Mohammad ,Haddad Mona
|
|
Abstract
|
Synchrotron radiation is an advanced polarized and collimated light source with high brilliance and intensity. whereas This radiation has a wavelength range of infrared to the highestenergy xrays. In this article, we provide a summary of application of xray spectroscopy with synchrotron radiation to xray spectroscopy. Here we discuss ten types of xray techniques include Xray Powder Diffraction(XRPD), Wide Angle Xray Scattering (WAXS), SmallAngle Xray Scattering (SAXS), Xray fluorescence(XRF), Xray reflectometry (XRR), Near Edge Xray Absorption Fine Structure (NEXAFS), Xray Absorption Near Edge Structure (XANES), Photo Electron Spectroscopy (XPS), Xray Emission Spectroscopy (XES), and xray imaging spectroscopy. These techniques have good potential for characterization of various micro and nanomaterials. Furthermore, some advantages of the use of these techniques are as follows: improving signal to noise ratio, better spatial resolution, and improving data acquisition.
|
|
Keywords
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|