ناهمسانگردی مغناطیسی در لایه‌های نازک کبالت- پالادیوم coxpd100-x روی زیرلایۀ sio2 آمورف

لایه‌های نازک کبالت پالادیوم با نسبت‌های مختلف، (coxpd100x(x=23,36,43 ، به روش لیزر پالسی روی زیرلایه فیوز سیلیکا (sio2 آمورف) رشد داده شدند. به‌منظور مشخصه‌یابی ساختاری نمونه‌ها از تحلیل‌های بازتابش پرتو ایکس (xrr) و پراش پرتو ایکس (xrd) و برای بررسی ویژگی‌های مغناطیسی از دستگاه اندازه‌گیری ویژگی‌های فیزیکی (ppms) استفاده شد. نتایج نشان می‌دهند که لایه‌ها ضخامتی در محدوده 16 تا 20 نانومتر دارند و‌ ساختار بلوری آن‌ها مکعبی مرکز حجمی (fcc) است. همچنین لایه‌ها دارای رشد مرجح در راستای [111]هستند. بررسی ویژگی‌های مغناطیسی این لایه‌ها نشان می‌دهد که با افزایش نسبت پالادیوم به کبالت، ناهمسانگردی مغناطیسی متمایل به جهت عمود بر لایه می‌شود که این اثر به تقویت برهمکنش اسپین مدار ارتباط داده شده است. همچنین در این پژوهش اثر ضخامت بر ناهمسانگردی مغناطیسی موردبررسی قرار گرفته است.

Magnetic anisotropy of cobalt - palladium CoxPd100-x thin films on amorphous SiO2

Cobalt – palladium thin films with different Co:Pd ratio, CoxPd100x (x=23, 36, 42), have been deposited on fused silica (amorphous SiO2) by pulsed laser deposition (PLD). For the structural characterization of the thin films, Xray reflectivity (XRR) and Xray diffraction (XRD) are used and for investigation the magnetic characteristics of the films, physical properties measurement system (PPMS) is used. The results show that the thickness of the thin films is in the range of 1620 nm and the crystal structure of the films is FCC. Also, the films have a [111] preferred growth direction. The study of the magnetic properties shows that the magnetic anisotropy tends to align in the perpendicular direction by the increase of Pd:Co ratio, which is attributed to the enhancement of the spinorbit interaction. Also, in this work, the effect of thickness on the magnetic anisotropy is investigated.