مشخصه سنجی تابش euvو ایکس نرم از پلاسمای تولید شده در میدان لیزر نانوثانیه بوسیله آشکار ساز دیود نوری axuv

نتایج تجربی بدست آمده از تابش ایکس نرم (sxr) و فرابنفش قوی یا euv بوسیله آشکارساز دیود نوری axuv حاصل از برهمکنش میدان لیزر نانوثانیه برای اولین بار در ایران مورد بررسی و تحلیل قرار گرفته اند. تابش فرابنفش قوی و ایکس نرم از پلاسمای تولید شده  با هدف فلزی استیل 316، گسیل می گردد. سامانه لیزری پالسی با انرژی 250 میلی ژول،  با پهنای زمانی 10-30 نانوثانیه در طول موج 1064 نانومتر تولید می کند. نتایج در محدوده طول موج تابشی یک رابطه خطی بین انرژی پالس لیزر و انرژی تابش از پلاسما را نشان می دهد. پالس های تابش پلاسما در این محدوده با قله مشخص و بلند در سیگنال حاصل از آشکار ساز axuv  با پهنای زمانی حدود 10-15 نانوثانیه و با تاخیر حدود 20 نانوثانیه نسبت به پالس لیزر مشاهده و ثبت گردید. همچنین میانگین بازدهی تبدیل انژی لیزر به تابش پلاسما در گستره بینابی ایکس نرم و فرابنفش قوی حدود 2 %  محاسبه شده است.

Characterization of EUV and Soft Xray emitted by plasma produced in a nanosecond laser field using AXUV PhotoDiode detector

Using AXUV (absolute extreme ultraviolet) photodiode, experimental results obtained for soft Xray and EUV emission are presented. Plasma produced by nanosecond laser pulse laser system is applied with maximum energy of 250 mJ, pulse durations, 1030 ns and wavelength, 1064 nm under interaction with steel316 target. The energy of soft Xray is observed to be approximately linearly proportional to the laser pulse energy. The soft Xray and EUV emissions with specific signal was detected by AXUV photodiode with durations of about 15 ns and time delay about 20 ns relative to the laser pulse. The average energy conversion efficiency emission was determined to be about 2.5%.