|
|
|
|
محاسبه پروفایل فوتونهای پراکنده شده در سیستمهای سی تی اسکن 64 برش با استفاده از اندازه گیری عملی
|
|
|
|
|
|
|
|
نویسنده
|
اکبرزاده افشین ,آی محمدرضا ,قدیری حسین ,سرکار سعید
|
|
منبع
|
iranian journal of medical physics - 1388 - دوره : 6 - شماره : 2 - صفحه:1 -10
|
|
|
|
|
کلیدواژه
|
فوتونهای پراکنده ,بهره فوتونهای پراکنده به اولیه ,سیستمهای توموگرافی کامپیوتری
|
|
آدرس
|
دانشگاه علوم پزشکی, مرکز تحقیقات علوم و تکنولوژی در پزشکی, فیزیک پزشکی, ایران, دانشگاه علوم پزشکی تهران, مرکز تحقیقات علوم و تحقیقات علوم و تکنولوژی, گروه فیزیک و مهندسی پزشکی, ایران, دانشگاه علوم پزشکی ایران, گروه فیزیک پزشکی, ایران, دانشگاه علوم پزشکی تهران, مرکز تحقیقات علوم و تکنولوژی در پزشکی, گروه فیزیک و مهندسی پزشکی, ایران
|
|
پست الکترونیکی
|
mohammadreza_ay@tums.ac.ir
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Authors
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|