بررسی ویژگی‌های ساختاری و مغناطیسی لایه نازک fe[fe/cr]n تولید شده به روش کندوپاش dc/rf

ساختار چندتایی از لایه نازک‌ فرومغناطیسی و غیر مغناطیسی به دلیل دارا بودن اثر مغناطومقاومت بسیار بزرگ در میدان‌های مغناطیسی کوچک، بسیار اهمیت دارند. لایه‌های متناوب فرومغناطیس و غیر فرومغناطیس در این تحقیق لایه نازک چندتایی آهن/ کروم به‌صورتfe[fe/cr]n با n=15,30,45 به روش کندوپاش dc/rf تهیه شدند. همچنین fe[fe/cr]n با دمای زیرلایه oc450 لایه‌نشانی شدند. الگوهای پراش پرتو ایکس، لایه نازک با ساختار بلوری آهن با صفحه (110) و (200) را تایید کردند. سطح نانوساختار لایه‌ها در تصاویر میکروسکوپی الکترونی روبشی، مشخص شدند. تصاویر میکروسکوپی نیروی اتمی دوبعدی و سه بعدی، ضمن نمایش مورفولوژی سطح، زبری آن را نشان داد. با استفاده از منحنی‌های پسماند مغناطیسی ارتباط بین ضخامت، تعداد لایه و زبری ساختار چند لایه fe/cr و لایه نازک آهن بررسی شد. بیشترین نیروی پسماندزدای مغناطیسی oe 101 متعلق به لایه نازک fe[fe/cr]45-450 است، که برای fe[fe/cr]45 لایه‌نشانی‌شده در دمای محیط، oe 38 می‌باشد. رفتار دیواره نیل حوزه o180در لایه fe[fe/cr]45-450 با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی مشخص شد.

investigation of structural and magnetic properties of fe[fe/cr]n thin films produced by the dc/rf sputtering method

multilayers of ferromagnetic and non-magnetic thin films are vital because of a very large magnetoresistance effect in small magneticfields. in this study, multilayer thin films of iron/chromium in the form of fe[fe/cr]n with n = 15, 30, and 45 were prepared bydc/rf sputtering. additionally, fe[fe/cr]n was deposited at a substrate temperature of 450 °c. x-ray diffraction patterns confirmedthe thin film with a crystalline structure of iron with (110) and (200) planes. the nanostructured surface of the layers is evident inscanning electron microscopy images. two-dimensional and three-dimensional atomic force microscopy images showed the surfacemorphology and roughness. using magnetic remanence curves, the relationship between the thickness, number of layers, androughness of the fe/cr multilayer structure and the thin iron layer was investigated. the highest magnetic coercivity is 101 oe forthe thin film fe[fe/cr]45-450, which is 38 oe for fe[fe/cr]45 deposited at ambient temperature. magnetic force microscopy reveals the 180° domain with the behavior of the nile wall for fe[fe/cr]45-450.