ارزیابی فنوتیپی و مولکولی مقاومت به بیماری زنگ سیاه در برخی از ارقام تجاری و لاین های امیدبخش گندم

بیماری‌های قارچی از عوامل عمده‌ی کاهش محصول و افزایش هزینه‌های تولید گندم به‌شمار می‌روند. زنگ سیاه با عامل (pgt) puccinia graminis f. sp. tritici، یکی از مهم‌ترین بیماری‌های قارچی گندم در جهان می‌باشد. شناسایی منابع مقاومت جدید به زنگ‌ سیاه و تعیین ژن‌های مقاومت موجود در آن‌ها، از ملزومات تولید ارقام مقاوم و ایجاد مقاومت پایدار به‌عنوان مهم‌ترین روش کنترل این بیماری‌ محسوب می‌شود. به‌منظور شناسایی منابع جدید مقاومت گیاهچه‌ای نسبت به بیماری زنگ سیاه، الگوی بیماری‌زایی هشت جدایه‌ی مختلف pgt بر روی 27 رقم تجاری و لاین امیدبخش گندم حاصل از برنامه‌های ملی به‌نژادی کشور در قالب طرح بلوک‌های کامل تصادفی با سه تکرار بررسی شد. ردیابی مولکولی مکان های ژنی sr36، sr26 ،sr25/lr19 و sr38/lr37/yr17 که از جمله ژن های موثر القای مقاومت گیاهچه ای به زنگ سیاه می باشند، با استفاده از نشانگرهای مولکولی پیوسته و مرتبط در ژنوتیپ های مورد مطالعه انجام یافت. نتایج بررسی های فنوتیپی نشان داد که لاین های s-83-4، s-84-14، sep-49 وsep-59 نسبت به تمامی نژادهای مورد مطالعه مقاومت گیاهچه ای قابل قبولی داشتند. داده های حاصل از آزمایش های مولکولی حاکی از آن بود که مکان ژنی sr25/lr19 در لاین 58-sep و رقم مهرگان، و مکان ژنی sr38/lr37/yr17 در رقم سارنگ و لاین های n-92-10، n-92-12 و m-91-10 وجود داشته و ژن های sr26 و sr36 در هیچ کدام از ژنوتیپ های مورد مطالعه شناسایی نشدند. براساس نتایج به دست آمده از این پژوهش و با استفاده از ژنوتیپ های شناسایی شده حامل ژن های مقاومت به عنوان والد بخشنده در برنامه های به نژادی گندم برای مقاومت به زنگ سیاه به ویژه نژادهای غالب بیمارگر و گروه نژادیug99، می توان فراوانی حضور ژن های موثر مقاومت در ارقام جدید اصلاح شده را افزایش داد.

Evaluation of Phenotypic and Molecular Resistance to Stem Rust Disease in Wheat Commercial Cultivars and Elite Lines

Fungal diseases are considered as main causes of yield loss and increased costs in wheat production. Stem rust caused by Puccinia graminis f. sp. tritici (Pgt), is a devastating fungal disease of wheat, worldwide. Identification of new stem rust resistance sources, and the involved genes are required to achieve resistant cultivars and durable resistance as the most efficient control method of wheat stem rust. In order to identify new seedling resistance sources, virulence pattern of eight Pgt isolates was studied on 27 wheat commercial cultivars and elite lines of national breeding programs in a randomized block design with three replications.