ویژگی‌های ساختاری، ریخت‌شناسی و مغناطیسی لایه نازک فریت co-zn تهیه شده به روش اسپری پایرولیز

ویژگی های ساختاری، ریخت شناسی و مغناطیسی لایه های نازک co0/5zn0/5fe2o4 به روش تحلیل پراش پرتوx ، میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی(fe-sem) و مغناطیس سنج نمونه ی نوسانی(vsm) بررسی شد. لایه های نازک به روش افشانه آتشکافت (پایرولیز) لایه نشانی، سپس در دماهای 500°c و 600°c تکلیس شدند. نتایج پراش پرتو x نشان داد که نمونه های تکلیس شده، تک فازند و اندازه بلورک و ثابت شبکه، با افزایش دمای تکلیس زیاد می شود. تصاویر fe-sem از سطح نمونه های تکلیس شده، توزیع همگنی از ذرات را نشان می دهد. اندازه ی ذرات بدست آمده نمونه های تکلیس شده در دمای 500°c و 600°c به ترتیب حدوداً 20nm و 35nm است. اندازه گیری های مغناطیسی در دمای اتاق برای دو حالت موازی و عمود بر سطح لایه نازک نشان می دهد که با افزایش دمای تکلیس مغناطش و وادارندگی لایه ها افزایش می یابد که این می تواند به دلیل مهاجرت یون های غیرمغناطیسی zn^2+ از جایگاه هشت وجهی به چاروجهی باشد.