|
|
|
|
ویژگیهای ریختاری و دیالکتریکی نانوکامپوزیتهای ni0.3cu0.2zn0.5fe2o4/pbfe12o19
|
|
|
|
|
|
|
|
نویسنده
|
خدایاری کبری ,قلی زاده احمد ,هاتفی هانیه
|
|
منبع
|
بلورشناسي و كاني شناسي ايران - 1403 - دوره : 32 - شماره : 4 - صفحه:813 -820
|
|
چکیده
|
ویژگی های ریختاری و دی الکتریکی نانوکامپوزیت های pbfe12o19/(1-x)ni0.3cu0.2zn0.5fe2o4(x)، که در آن x درصد وزنی و برابر با 0، 6، 12، 30، 60 و 100 درصد است بررسی شدند. نمونه ها پراش سنج پرتو x، میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر-میدانی و lcr سنج، مشخصه یابی شدند. افزایش تخلخل در نمونه های میانی با مقادیر هگزافریت سرب موجب کاهش مقدار بخش حقیقی ثابت دی الکتریک شد. نتایج به دست آمده نشان می دهد که رسانش نمونه ها را می توان ناشی از حرکت کوتاه برد حامل بار دانست که با سازوکار جهش پلارون کوچک توضیح داده می شود.
|
|
کلیدواژه
|
نانوکامپوزیت، روش سیترات نیترات، ریختاری، ویژگیهای دیالکتریکی
|
|
آدرس
|
دانشگاه دامغان, دانشکده فیزیک, ایران, دانشگاه دامغان, دانشکده فیزیک, ایران, دانشگاه دامغان, دانشکده فیزیک, ایران
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
morphological and dielectric properties of ni0.3cu0.2zn0.5fe2o4/pbfe12o19 nanocomposites
|
|
|
|
|
Authors
|
khodayari kobra ,gholizadeh ahmad ,hatefi haniyeh
|
|
Abstract
|
morphological and dielectric properties of (x)pbfe12o19/(1-x)ni0.3cu0.2zn0.5fe2o4 (x = 0, 6, 12, 30, 60, 100) nanocomposites have been investigated. the samples were analyzed using x-ray diffractometer, field-emission scanning electron microscope and lcr meter. increasing the porosity of samples by adding intermediate lead hexaferrite caused a decrease in the value of the real part of the dielectric constant. the obtained results show that the conduction process in the samples is dominant due to the charge carrier short-range motion which is explained by the small polaron hopping mechanism.
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|