ریخت‌شناسی برخالی و چندبرخالی لایه‌های کربن شبه‌الماسی با آلایش نقره-نیتروژن

امروزه لایه کربن شبه‌الماسی برای کاربردهای صنعتی و زیستی مورد توجه است، به طوریکه با وارد کردن ناخالصی (فلزی یا غیر فلزی) به آن، به دنبال ایجاد ویژگی های ساختار و مکانیکی جدیدی هستند. از اینرو در این پژوهش نانوذرات نقره در بستری از لایه نازک کربن شبه‌الماسی روی زیرلایه‌های مختلف فلزی با استفاده از روش همزمان کندوپاش پلاسمای بسامد رادیویی و انباشت بخار شیمیایی تهیه و مشخصه‌یابی شدند. لایه‌ها از هدف نقره در محیطی از ترکیب گازهای استیلن و نیتروژن و در فشارهای مختلف کاری ساخته شدند. ریختار (مورفولوژی) لایه‌ها با میکروسکوپ نیروی اتمی‌ (afm) بر اساس استاندارد 25178-2: 2012 بررسی گردید و نتایج آماری به دست آمده از داده‌های afm نشان داد که مکان نگاری سطح لایه‌ها در فشارهای مختلف با توجه به طبعیت زیرلایه، دستخوش تغییر شده است، بطوریکه نمونه‌های تهیه شده در فشار کاری 18/5 میلی تور بالاترین زبری سطح را نسبت به سایر نمونه‌ها داشتند. پس از آن ویژگی برخالی (فرکتالی) لایه‌های تهیه شده بصورت نظری بررسی گردید و مشخص شد که همه آنها ویژگی های چندبرخالی (چندفرکتالی) دارند. نتایج بررسی چند برخالی لایه‌ها همخوانی خوبی با سایر داده‌های آماری afm داشت. همچنین با کمک طیف سنجی های پراکندگی انرژی پرتوی ایکس (eds) و رامان، تشکیل ساختار و وجود عناصر کربن، نیتروژن و نقره و وجود ساختار کربن شبه‌الماسی تایید شد.     

fractal and multifractal morphology of diamond-like carbon films with ag:n doping

nowadays, the use of diamond-like carbon films has been considered for industrial and biological applications, so in today’s research, by introducing impurities (metallic or non-metallic), they are looking for new structural and mechanical properties. therefore, this research discussed the fabrication and characterization of silver nanoparticles in a diamond-like carbon (dlc) thin film bed on various metal substrates using the simultaneous radio frequency plasma sputtering and chemical vapour deposition method. therefore, the films were fabricated from the silver target in an environment of a combination of acetylene and nitrogen gases at different working pressures. the morphology of the film was examined using an atomic force microscope (afm) according to the standard 25178-2: 2012, and the statistical results obtained from the afm data showed that the surface topography of the film at different pressures changed according to the substrate nature so that the samples prepared at a working pressure of 18.5 mtorr had the highest surface roughness compared to other samples. after that, the fractal properties of the prepared films were theoretically checked, and all the films have multi-fractal properties—the results of the multi-fractal analysis of the film satisfactorily complied with other afm statistical data. moreover, with the help of eds and raman analysis, the structure formation, the presence of carbon, nitrogen, and silver elements, and the existence of a carbon-like structure were confirmed.