|
|
یک آزمون نیکویی برازش نمایی برای داده های سانسور شده تصادفی با استفاده از واگرایی l2
|
|
|
|
|
نویسنده
|
هاشم زائی یاسر ,امیرجهانشاهی مهدی ,دهقان محمدحسین
|
منبع
|
انديشه آماري - 1402 - دوره : 28 - شماره : 2 - صفحه:147 -159
|
چکیده
|
در این مقاله آزمون واگرایی l2 را جهت سنجش نمایی بودن دادههای سانسور تصادفی معرفی میکنیم. سپس توان این آزمون در تشخیص نمایی بودن داده ها را به روش شبیهسازی مونت کارلو با سایر آزمونهای رقیب شامل آزمونهای کولموگروف-اسمیرنوف، اندرسون-دارلینگ و کرامر فون-میزس که مبتنی بر تابع توزیع تجربی و آزمونهای مبتنی بر معیار اطلاع مورد مقایسه قرار میدهیم. نتایج مطالعات شبیهسازی نشان میدهد که آزمون پیشنهادی عموما عملکرد بهتری نسبت به سایر آزمونهای رقیب دارد.
|
کلیدواژه
|
آزمون نیکویی برازش، سانسور تصادفی، سنجش نمایی بودن، آزمون واگرایی l2
|
آدرس
|
آموزش و پرورش زاهدان, ایران, دانشگاه سیستان و بلوچستان, ایران, دانشگاه سیستان و بلوچستان, ایران
|
پست الکترونیکی
|
mhdehghan2000@gmail.com
|
|
|
|
|
|
|
|
|
a goodness-of-fit test of exponentiality for random censored data using l2 divergence
|
|
|
Authors
|
hashemzaie yasser ,amir jahanshahi mahdi ,dehqan mohammad hosein
|
Abstract
|
in this article, we propose using the l2 divergence to test the exponentiality for random censored data. then we compare the ability of the proposed test to detect the exponential distribution by monte carlo simulation with other competing tests, including the kolmogorov‐smirnov, anderson‐darling and cramer von‐mises tests, which are based on the empirical distribution function and the information criteria tests. the results of simulation studies show that the proposed test generally performs better than its competitor tests.
|
Keywords
|
goodness of fit test ,random censoring ,exponential function test ,l2 divergence test
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|